Occasion KRATOS ANALYTICAL Axis Ultra DLD #293799369 à vendre en France

KRATOS ANALYTICAL Axis Ultra DLD est un spectromètre de pointe spécialement conçu pour des applications d'analyse de surface dans divers domaines tels que la science des matériaux, la nanotechnologie et les produits pharmaceutiques. Cet instrument de pointe est équipé de la technologie DLD (Dual Layer Detector), qui améliore considérablement les performances et la sensibilité du spectromètre par rapport aux détecteurs monocanal traditionnels. Axis Ultra DLD est capable de fournir des données haute résolution avec une sensibilité exceptionnelle, ce qui en fait un outil idéal pour analyser la composition de surface d'un large éventail de matériaux. Une des caractéristiques clés de KRATOS ANALYTICAL Axis Ultra DLD est ses capacités à haute résolution, qui permettent d'identifier et de quantifier avec précision les éléments présents à la surface d'un échantillon. Le spectromètre utilise une source de rayons X monochromatique, typiquement une source Al K α, qui génère des rayons X avec un niveau d'énergie spécifique pour exciter les atomes de l'échantillon. Les photoélectrons émis sont ensuite analysés à l'aide d'un analyseur d'énergie électronique qui sépare les électrons en fonction de leurs niveaux d'énergie. La technologie Dual Layer Detector assure que le spectromètre capture une large gamme d'énergies électroniques, fournissant des informations détaillées sur la composition de surface de l'échantillon. En plus de l'analyse haute résolution, Axis Ultra DLD offre une excellente sensibilité, permettant la détection des oligo-éléments et des contaminants de surface. La technologie DLD améliore le rapport signal sur bruit du spectromètre, permettant la détection de faibles concentrations d'éléments avec une grande précision. Cela est particulièrement bénéfique dans les applications où l'analyse des oligo-éléments est cruciale, comme dans la recherche pharmaceutique ou la surveillance de l'environnement. KRATOS ANALYTICAL Axis Ultra DLD est également équipé de logiciels avancés d'acquisition et de traitement des données, ce qui simplifie l'analyse et l'interprétation des données. Le logiciel permet aux utilisateurs de visualiser et de manipuler facilement les données obtenues à partir du spectromètre, facilitant ainsi l'identification des contaminants de surface, des compositions élémentaires et des informations de liaison chimique. L'interface utilisateur intuitive du logiciel le rend accessible aux utilisateurs avec des niveaux d'expertise variables, rendant le spectromètre adapté à la fois pour les laboratoires de recherche et les environnements industriels. En outre, le spectromètre Axis Ultra DLD est conçu pour la polyvalence et la facilité d'utilisation, avec une gamme d'options de manipulation d'échantillons et d'accessoires disponibles pour accueillir différents types et tailles d'échantillons. L'instrument peut être utilisé pour l'analyse de profilage de profondeur, la cartographie élémentaire et l'analyse de l'état chimique, fournissant une caractérisation complète de la surface de l'échantillon. De plus, le système peut être intégré à d'autres techniques analytiques, telles que la spectrométrie de masse des ions secondaires (SIMS) ou la microscopie à force atomique (AFM), afin d'obtenir des données multimodales pour une compréhension plus approfondie des propriétés des échantillons. Dans l'ensemble, le spectromètre KRATOS ANALYTICAL Axis Ultra DLD est un outil puissant pour les applications d'analyse de surface, offrant des données à haute résolution, une sensibilité exceptionnelle et des capacités de traitement de données avancées. Grâce à sa technologie innovante de détecteur à double couche et à son interface conviviale, Axis Ultra DLD offre aux chercheurs et aux analystes une solution fiable et efficace pour caractériser les propriétés de surface d'un large éventail de matériaux.