Occasion OXFORD X-Max #9375044 à vendre en France
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Vendu
ID: 9375044
Energy Dispersive Spectrometer (EDS)
51-XMX0020 Detector
HITACHI SU-3500 Scanning Electron Microscope (SEM)
Operating system: Windows 7 Pro
Calibration performance:
Discriminator calibration (FxMxS): 56x36x61
Peak position calibration: 1851
Quant optimization: Cu
Specified resolution: 127 eV
Extrapolated system resolution: 124 eV (Triggered noise strobe)
Measured detector resolution at Mn K Alpha: ≤127 eV
Nickel L-K: >0.85 at 35° TOA and 20 kV
Measured detector resolution at C K Alpha: ≤56 eV
Measured detector resolution at F K Alpha: ≤64 eV
Detector temperature: -60°C
Peltier power: 5.387 W.
Le spectromètre X-Max d'OXFORD est un spectromètre avancé conçu pour des applications de fluorescence X dispersive en longueur d'onde à haute résolution (XRF). Il dispose d'un nouveau réseau de détecteurs qui offre une résolution, une efficacité et une flexibilité améliorées. Il fonctionne avec jusqu'à quatre sources d'excitation de rayons X qui peuvent être sélectionnées individuellement pour la détection optimisée des éléments. Le réseau de détecteurs comprend jusqu'à six éléments, chacun d'eux étant disposé avec des angles et des angles d'incidence différents. Cette disposition permet de saisir simultanément une large gamme de longueurs d'onde X, permettant d'obtenir des informations à haute résolution avec un maximum d'efficacité. Le réseau est construit avec des cellules de détection empilées à argon, conçues pour maximiser l'efficacité de détection des rayons X et pour minimiser les fluctuations des comptages. X-Max est également équipé d'un nouveau détecteur Si (Li) qui fournit une haute efficacité de détection pour les éléments lumineux. OXFORD X-Max dispose d'une gamme dynamique accrue allant jusqu'à 10 000 comptages, permettant un débit d'échantillon élevé et un meilleur rapport signal/bruit. Le spectromètre est également conçu avec une large gamme de techniques de suppression d'interférences, y compris la mise en forme du faisceau, la soustraction monochromateur, et l'opération impulsionnelle pour la suppression du bruit et la résolution optimale. X-Max utilise une chambre à vide unique et une technologie de refroidissement personnalisée pour garantir la fiabilité et les performances à long terme. Son optique réfractive sur mesure offre un environnement thermique amélioré et une dérive minimisée pour assurer des lectures précises. OXFORD X-Max dispose également d'un contrôle d'exposition automatique intégré, permettant aux utilisateurs d'optimiser les conditions de leurs échantillons pour maximiser la résolution et minimiser le risque de surexposition. X-Max dispose de logiciels avancés conçus pour rationaliser l'intégration et l'analyse des données. Son interface graphique intuitive permet aux utilisateurs de surveiller leurs mesures, de visualiser les données brutes et d'accéder instantanément aux résultats. Le logiciel dispose également d'un moteur de recherche intégré avec des options de tri personnalisables, permettant aux utilisateurs de localiser rapidement les éléments désirés. Dans l'ensemble, OXFORD X-Max fournit un puissant spectromètre autonome qui combine un logiciel convivial impressionnant et un réseau de détecteurs robuste pour une résolution et une efficacité améliorées. Sa conception conviviale, ses capacités de haute résolution et ses logiciels avancés font de X-Max un choix idéal pour la spectrométrie XRF.
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