Occasion PERKIN ELMER NexION 300X #9224795 à vendre en France

PERKIN ELMER NexION 300X est un spectromètre à haute résolution puissant et polyvalent conçu pour la spectroscopie atomique. Il dispose d'un équipement d'optique ionique mobile breveté qui permet des mesures rapides et flexibles des données Peak et de profil en temps quasi réel. Le système est capable d'un large éventail de techniques STEM et d'applications spectrométriques de masse. PERKIN ELMER NEXION 300 X utilise une unité optique ionique mobile unique conçue pour améliorer le débit et la détection. Cette source d'ions mobile est placée sur l'extrémité avant du spectromètre et fournit le centrage du faisceau d'ions complet, la focalisation, et en option la coupe Faraday et l'imagerie. Cela permet d'améliorer la stabilité et le contrôle de l'alignement des lentilles. L'instrument contient un certain nombre de composants optiques, dont un analyseur, un détecteur et une source. L'analyseur est refroidi au gaz d'argon et est capable de produire des données répétables jusqu'à 180 degrés de résolution. Le détecteur est un réseau de photodiodes d'avalanche (APD) avec ∼90° angle de détection. Cela permet à l'utilisateur de saisir les données rapidement et avec précision. Enfin, la source est une source à plasma à couplage inductif (ICP) de puissance variable. NexION 300X dispose également d'une machine dynamique avancée d'acquisition de données capable de compter jusqu'à 20 000 temps d'accumulation. Cela permet une identification rapide et précise des pics en temps quasi réel. L'outil dispose également d'une variété de capacités d'analyse des données, y compris l'intégration des pics, les statistiques de détectabilité et la reconnaissance des pics. Dans l'ensemble, NEXION 300 X est un excellent choix pour les laboratoires à la recherche d'une combinaison de performance et de valeur. Cet atout offre des performances supérieures avec un haut débit, une grande sensibilité et stabilité, et une large gamme de capacités spectrales. Cela en fait un excellent choix pour l'analyse atomique, massive et STEM.