Occasion PHYSICAL ELECTRONICS / PHI 670 #9205333 à vendre en France

PHYSICAL ELECTRONICS/PHI 670 est un spectromètre très sophistiqué conçu pour l'analyse de matériaux et de surfaces complexes. PHI 670 offre une gamme de fonctionnalités permettant la collecte et l'analyse de données précises. L'instrument intègre un spectromètre optique à laser pour des mesures avancées, y compris la spectroscopie de photoémission résolue en angle (ARPES), la spectroscopie de photoémission ultra-violette (UPS) et la spectroscopie de photoélectronique à rayons X (XPS). Le spectromètre offre en outre l'analyseur intégré, qui fournit un large éventail d'informations sur l'échantillon, y compris l'énergie de liaison et la résolution spectrale. PHYSICAL ELECTRONICS 670 contient une table optique, un porte-échantillon flexible et un détecteur très sensible, permettant une collecte de données précise et précise. La table est configurée avec un monochromateur à réflexion glissante et une ouverture de sélection de vitesse qui accepte des entrées d'énergie laser variables des fréquences UV aux rayons X. Le porte-échantillon flexible permet des mesures optimisées d'interrogation de surface et de résolution d'angle avec un minimum d'erreurs de positionnement ou de rotation de l'échantillon. En outre, la température du substrat d'équilibre dans le porte-échantillon peut être ajustée pour correspondre à la source d'énergie laser. Le spectromètre offre deux modes différents de collecte de données. La collecte de données en un seul cliché se caractérise par une acquisition rapide de données avec une configuration minimale, tandis que la collecte de données en temps réel permet l'analyse de processus dynamiques. En outre, 670 a une capacité de balayage multi-canaux pour profiler en profondeur l'indice de réfraction pour les couches souterraines et les couches minces. Ceci est utile pour contrôler les propriétés optiques et parasites des couches de substrat. De plus, PHYSICAL ELECTRONICS/PHI 670 permet de mesurer simultanément plusieurs processus cinétiques et thermiques tels que la désorption, la diffusion, les réactions chimiques et la libération thermique. PHI 670 est conçu pour mesurer des données précises, tout en offrant un processus rapide de collecte et d'acquisition de données. Sa combinaison de fonctionnalités en fait un excellent choix pour une variété d'applications en PHI. Au-delà de la mesure de procédés complexes, il est également efficace pour caractériser les matériaux, les couches minces, les substrats et les capteurs pour la science de la surface et l'analyse des matériaux. PHYSICAL ELECTRONICS 670 est idéal pour les laboratoires industriels et de recherche qui nécessitent un spectromètre de pointe pour la mesure précise et précise des données.