Occasion PHYSICAL ELECTRONICS / PHI TRIFT III #9106480 à vendre en France

PHYSICAL ELECTRONICS/PHI TRIFT III est un spectromètre polyvalent et puissant conçu pour les applications de mesure PHI (PE). Il dispose d'un équipement polyvalent de détection à six canaux capable de mesurer et d'analyser les propriétés physiques et électriques aux niveaux nano, picoseconde et femtoseconde. PHI TRIFT III est le troisième d'une série d'instruments spectromètres développés par PHYSICAL ELECTRONICS. L'ELECTRONIQUE PHYSIQUE TRIFT III offre un large éventail d'outils d'information et d'analyse qui permettent de tester et d'analyser de manière exhaustive les matériaux et les dispositifs semi-conducteurs, y compris les résistances sensibles à la tension, les dispositifs optoélectroniques, les dispositifs semi-conducteurs de puissance et les circuits intégrés. PHYSICAL ELECTRONICS/PHI TRIFT 3 est également idéal pour sonder une variété de champs, y compris les propriétés électriques, optiques et thermiques. PHI TRIFT 3 est équipé d'un système de détection à effet Faraday haute résolution, qui fournit des mesures ultra-rapides, de niveau picoseconde, sans bruit de tir. Il est également équipé d'un laser à impulsion large bande pour mesurer la capacité de jonction, la capacité de diffusion et les propriétés connexes. Le laser est équipé d'une diode, d'une lampe flash et d'une photodiode permettant de sonder optiquement tout dispositif testé. PHYSICAL ELECTRONICS TRIFT 3 est également équipé d'une unité de test de bruit de fréquence hyperfréquence pour fournir des mesures de bruit rapides et précises. La machine permet d'étudier l'acoustique des outils, les sources de bruit ambiant et le bruit thermique. De plus, PHYSICAL ELECTRONICS/PHI TRIFT 3 est capable de mesurer le bruit gigahertz des appareils nanométriques. PHI TRIFT 3 dispose d'un capteur de champ E intégré qui permet des mesures électriques de niveau picoseconde, y compris des champs électriques, des composants inductifs, des éléments capacitifs, et d'autres caractéristiques. Cet atout permet de mesurer les propriétés physiques des transistors, des transistors à jonction bipolaire et des transistors à effet de champ. PHYSICAL ELECTRONICS TRIFT 3 est également équipé de systèmes avancés de mesure des émissions sur le terrain, utilisés pour étudier les réponses électrophysiologiques à l'échelle nanométrique. Le modèle peut mesurer la réponse diélectrique, la réponse du champ électronique et leur interaction. Son microscope électronique à balayage permet d'étudier des microféatures de nanodévices à l'échelle d'un nanomètre. En conclusion, le spectromètre PHYSIQUE ELECTRONIQUE/PHI TRIFT 3 est un instrument idéal pour les applications de tests physiques, électriques et optiques. Il contient un ensemble complet d'outils de mesure et d'analyse pour étudier les dispositifs semi-conducteurs au niveau de la picoseconde et de la femtoseconde. Ses capteurs de champ E très efficaces et ses systèmes avancés de mesure des émissions sur le terrain en font un outil inestimable pour la caractérisation des dispositifs nanométriques.