Occasion PHYSICAL ELECTRONICS TRIFT97 #293759391 à vendre en France
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ID: 293759391
Time Of Flight Secondary Ion Mass Spectrometer (TOF-SIMS)
Ion sources: Ga+, Cs+, O2+
Detection limit: ppm-ppb
Spatial resolution at imaging: >100 nm
Probing depth: 1-3 monolayers in static mode
Depth resolution: 0.5 nm with 500eV sputter gun
Mass range: 0-10.000 amu
Detectable elements: H-U.
PHYSICAL ELECTRONICS TRIFT97 est un spectromètre de pointe conçu pour l'analyse de surface utilisant la spectroscopie électronique Auger (AES) et la spectroscopie photoélectronique à rayons X (XPS). Cet instrument de haute performance fournit aux chercheurs et aux scientifiques la capacité d'étudier la chimie de surface, la composition et la structure des matériaux avec des capacités exceptionnelles de sensibilité et de profilage de profondeur. TRIFT97 spectromètre est équipé d'un analyseur d'énergie électronique hémisphérique qui permet des mesures précises de l'énergie des électrons émis, permettant de déterminer avec précision la composition élémentaire et les états de liaison chimique à la surface des échantillons. Le système est conçu pour fonctionner dans des conditions de vide ultra-élevé afin de minimiser la contamination de la surface et de maintenir des rapports signal à bruit élevés pendant l'analyse. L'instrument comprend un ensemble sophistiqué de canons à électrons qui émet un faisceau d'électrons focalisés sur la surface de l'échantillon, induisant l'émission d'Auger et de photoélectrons. Ces électrons émis sont ensuite recueillis par l'analyseur d'énergie électronique et traités pour générer des spectres à haute résolution qui révèlent des informations détaillées sur la composition élémentaire et l'environnement chimique de l'échantillon. Le spectromètre PHYSICAL ELECTRONICS TRIFT97 est équipé de multiples canaux de détection pour l'acquisition simultanée de spectres Auger et XPS, permettant une analyse efficace et complète des surfaces complexes. Le système permet aux utilisateurs d'effectuer des expériences de profilage de profondeur en pulvérisant l'échantillon avec un faisceau d'ions tout en surveillant en permanence l'évolution de la composition de surface et des états chimiques. Un des traits clés de spectromètre TRIFT97 est son logiciel de traitement et d'acquisition de données avancé, qui offre une interface facile à utiliser pour le contrôle d'instrument, l'acquisition de données et l'analyse. Le logiciel permet de visualiser en temps réel les spectres acquis, d'identifier les pics, de quantifier les concentrations élémentaires et d'interpréter les états chimiques en fonction des énergies de liaison. L'instrument comprend également une gamme d'accessoires et de mises à niveau facultatifs pour améliorer ses capacités analytiques, comme une source de rayons X monochromatique pour une résolution XPS améliorée, un mode de profilage de profondeur pour la pulvérisation séquentielle et l'analyse, et des étapes de chauffage et de refroidissement d'échantillons pour des expériences in situ à des températures contrôlées. En résumé, PHYSICAL ELECTRONICS TRIFT97 est un spectromètre polyvalent et puissant qui offre des capacités de pointe pour les applications d'analyse de surface. Grâce à sa grande sensibilité, sa résolution et ses capacités de profilage de profondeur, l'instrument est idéal pour explorer les propriétés de surface d'un large éventail de matériaux dans des domaines tels que la science des matériaux, la nanotechnologie, la catalyse et la recherche sur les semi-conducteurs. Son interface logicielle intuitive et ses accessoires optionnels en font un outil précieux pour les chercheurs et les scientifiques qui cherchent à acquérir des connaissances approfondies sur la chimie et la structure des surfaces au niveau atomique.
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