Occasion SCIENTIFIC ANALYSIS INSTRUMENTS / SAI MiniSIMS ToF #9062424 à vendre en France
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ID: 9062424
System
Mass Spectrometer: Time of Flight (ToF), compact reflectron geometry, secondary ion pulsing
Primary Beam: Ga+, current ~3 nA, energy ~5 to 7 keV
Expected Emitter lifetime > 200 emission μA hours
Pumping System: Turbomolecular + diaphragm pumps
Computer Hardware: Dedicated PC with (2) monitors
Positive and negative secondary ion detection
Secondary electron and secondary ion imaging
Defocused primary beam for static SIMS analysis
Dynamic SIMS capability
Charge neutralization for insulating samples
Integrated data processing software
Data System Windows XP or 7 compatible
Instrument control, spectrum and image acquisition and display
Additional Options:
(1) Spectral library with search facility
(2) Enhanced Sample Handling
10 cm (4”) samples or multiple samples with automated analysis
General:
Size: True benchtop, < 0.80 m2 footprint + PC
Supplies: Single phase mains electrical supply
Power Requirements: 1.2kVA without PC, approximately 2.3kVA with PC
Ambient Temperature: Between 15°C and 25°C
Sample Handling:
Sample Type: Vacuum-compatible solid, < 0.5 mm surface roughness
Sample Size: < 12.5 mm diameter x < 6.5 mm thickness for conducting samples and
< 9.5 mm diameter x < 5 mm thickness for insulating samples
Sample Loading Time:~5 minutes for standard sample stage
Optional Upgrade available: < 100 mm diameter and < 12 mm thickness or up to 31 standard samples
Loading time ~35 minutes
Performance:
Base Pressure: < 1 x 10-6 mbar
Mass Range: m/z = 1 to 1200 daltons
Mass Resolution: m/dm > 650 @ m/z = 27 daltons (FWHM)
Mass Accuracy: Better than 0.2% above m/z = 12 with internal spectrum calibration
100
Sensitivity I > 1 x 104 cps/nA, I = Σ (I(xMo+) + I( xMoO+))
Analysis Area:
Defocused beam:-
Fixed 2.7 +/- 0.3 mm diameter area
Focused beam:-
Minimum limited by primary beam (see spot size)
Maximum 4.5 mm x 4.5 mm image area for conducting samples
1.5 mm x 1.5 mm image area for insulating samples
Primary Beam Spot Size: < 10μm @ 3 nA / 6 keV Ga+ for conducting samples
< 50μm @ 3 nA / 6 keV Ga+ for insulating samples.
INSTRUMENTS D'ANALYSE SCIENTIFIQUE/SAI MiniSIMS ToF est un spectromètre haute performance conçu pour mesurer et analyser la composition des échantillons solides et organiques. Cet instrument est idéal pour des applications telles que l'analyse nanométrique, la découverte de médicaments, l'identification de matériaux et l'imagerie chimique. SAI MiniSIMS ToF a une géométrie cylindrique unique permettant des capacités d'imagerie et d'analyse à l'échelle de l'échantillon. Il consiste en une sélection de lentilles qui focalisent le faisceau d'échantillons ionisés sur un détecteur en orbite. Ce détecteur enregistre alors les particules entrantes en fonction du temps. En analysant les molécules détectées en fonction du temps, les INSTRUMENTS D'ANALYSE SCIENTIFIQUE MiniSIMS ToF est capable d'obtenir une analyse chimique précise et détaillée de l'échantillon. Le processus d'ionisation pour MiniSIMS ToF est réalisé par l'utilisation d'un canon à ions. Ce pistolet est une source externe de particules chargées qui peuvent être actionnées soit en polarité positive, soit en polarité négative. Le canon à ions est utilisé pour sélectionner les particules qui vont créer les ions et aussi pour contrôler les énergies auxquelles ils sont générés. Avec ce canon à ions, il est possible de mesurer des niveaux ultra-fins de composition isotopique. INSTRUMENTS D'ANALYSE SCIENTIFIQUE/SAI MiniSIMS ToF a deux modes de fonctionnement différents : primaire et secondaire. En mode primaire, les particules sont bombardées par un faisceau d'électrons et les ions résultants sont alors mesurés pour leur temps de vol (ToF). Ceci est utilisé pour obtenir les images moléculaires à haute résolution et les mesures de masse/charge exactes. En mode secondaire, les isotopes instables sont détectés avec un spectromètre de masse d'ions lents-secondaires pour mesurer les différences isotopiques entre les ions. Dans l'ensemble, le spectromètre SAI MiniSIMS ToF haute résolution offre un instrument puissant et fiable pour les applications d'analyse et d'imagerie. Ses détecteurs de particules haute résolution offrent des performances idéales pour diverses techniques d'analyse. En outre, son canon à ions permet la génération d'ions avec des énergies différentes et des modes de polarité multiples. Ceci permet à la fois l'identification et la quantification de diverses molécules dans l'échantillon. Avec sa polyvalence, sa vitesse et sa précision, cet instrument est un choix idéal pour tout laboratoire.
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