Occasion ULVAC / PHYSICAL ELECTRONICS / PERKIN ELMER PHI 700 TM #293828882 à vendre en France

ULVAC/PHYSICAL ELECTRONICS/PERKIN ELMER PHI 700 TM est un spectromètre avancé d'analyse de surface conçu pour des applications analytiques à haute performance en science des matériaux, analyse de couches minces et recherche en chimie de surface. Cet instrument de pointe combine l'expertise de trois grandes entreprises dans le domaine de l'analyse de surface - ULVAC, PERKIN ELMER et PHYSICAL ELECTRONICS - pour fournir des capacités analytiques de pointe pour caractériser la composition, la structure et les propriétés des surfaces et des films minces aux niveaux atomique et moléculaire. Au cœur du spectromètre ULVAC PHI 700 TM se trouvent ses techniques avancées d'analyse de surface, y compris la spectroscopie photoélectronique à rayons X (XPS), la spectroscopie électronique Auger (AES) et la spectrométrie de masse ionique secondaire en temps de vol. Ces techniques fournissent des outils puissants pour l'analyse élémentaire et chimique, le profilage de profondeur et l'imagerie de surface avec une sensibilité et une résolution spatiale élevées. La combinaison de XPS, AES et TOF-SIMS dans un seul instrument permet aux chercheurs d'obtenir des informations complètes sur la composition de surface, le collage chimique et la structure électronique d'un large éventail de matériaux, des métaux et semi-conducteurs aux polymères et aux biomatériaux. Une des caractéristiques clés du spectromètre PERKIN ELMER PHI 700 TM est sa polyvalence et sa flexibilité dans l'analyse des échantillons. Le système est équipé de multiples sources d'excitation, détecteurs et options d'analyse qui peuvent être personnalisées pour répondre aux exigences spécifiques de différents projets de recherche. Le module XPS, par exemple, utilise une source de rayons X monochromatique pour la quantification élémentaire précise et l'analyse de l'état chimique, tandis que le module AES utilise un faisceau d'électrons de haute énergie pour la sensibilité de surface et la résolution spatiale. Le module TOF-SIMS, par contre, utilise un faisceau d'ions primaires pulsés pour générer des spectres de masse d'ions secondaires à haute résolution de masse et sensibilité. En plus de ses capacités avancées d'analyse de surface, le spectromètre PHI 700 TM PHYSICAL ELECTRONICS offre une gamme de fonctionnalités innovantes pour l'acquisition et l'analyse de données améliorées. L'instrument est équipé d'un logiciel de traitement de données sophistiqué qui permet la visualisation des données en temps réel, l'ajustement des pics et l'analyse quantitative des spectres XPS, AES et TOF-SIMS. Les chercheurs peuvent également profiter des capacités de profilage de profondeur de l'instrument, qui permettent d'étudier la composition de surface et la structure des couches en fonction de la profondeur avec résolution à l'échelle du nanomètre. En outre, le spectromètre PHI 700 TM est conçu avec une interface conviviale et des contrôles intuitifs pour faciliter le fonctionnement et l'interprétation des données. L'instrument dispose d'un système de traitement d'échantillons à haut débit, de routines automatisées d'acquisition de données et de capacités de surveillance à distance pour un flux de travail et une productivité efficaces. Les chercheurs peuvent également bénéficier des options de connectivité de l'instrument, telles que l'intégration du réseau et le partage des données, pour une collaboration et une gestion des données transparentes. En résumé, le spectromètre ULVAC/PHYSICAL ELECTRONICS/PERKIN ELMER PHI 700 TM est un outil puissant et polyvalent pour l'analyse de surface et la caractérisation des matériaux dans la recherche et l'industrie. Avec ses techniques d'analyse avancées, ses configurations personnalisables et son interface conviviale, l'instrument offre des capacités inégalées pour étudier les propriétés et le comportement des surfaces et des couches minces aux niveaux atomique et moléculaire. Qu'il s'agisse d'étudier la composition des dispositifs semi-conducteurs, d'examiner la chimie des catalyseurs ou d'optimiser les performances des revêtements et des couches minces, le spectromètre ULVAC PHI 700 TM fournit une solution complète pour des applications d'analyse de surface de pointe.