Occasion ULVAC TOF-SIMS TFS-210 #9078417 à vendre en France

ULVAC TOF-SIMS TFS-210 est un spectromètre de masse ionique secondaire TriboFieldMD (SIMS) conçu pour des applications avancées en recherche et développement. Cet instrument basé sur le temps de vol (TOF-SIMS) a une haute résolution et une précision de masse supérieure, ce qui le rend idéal pour la caractérisation de surface des matériaux semi-conducteurs et organiques. Le système TOF-SIMS TFS-210 est capable d'analyser de larges gammes de masse allant de quelques amu à plus de 1500amu, avec une sensibilité à la faible gamme de masse allant jusqu'à environ 50amu. Grâce à sa conception optique de haute précision, il offre une excellente résolution de masse avec une séparation isotopique des masses monoisotopiques. ULVAC TOF-SIMS TFS-210 a une source tribofocusée, permettant une spectrométrie de masse efficace même des petits ions de molécules. En outre, le système est également équipé d'une source d'ions électrospray pour l'analyse d'échantillons avec des composés organiques et pour l'ionisation positive de petites molécules. TOF-SIMS TFS-210 dispose également d'un système de tubes dérivants en deux étapes pour la sélection des ions primaires afin que les ions secondaires d'intérêt puissent être séparés de ceux qui sont indésirables. Le TOF-SIMS dispose de cinq méthodes différentes pour l'acquisition de données, ce qui le rend polyvalent dans les applications. Ces programmes comprennent la méthode de transmission, une méthode de désorption en trois étapes, une méthode de sélection de la masse d'énergie variable, une méthode de détection des espèces de traces par ions reculés, et une méthode d'imagerie érosive qui peut effectuer l'imagerie ionique et le profilage de profondeur de pulvérisation. ULVAC TOF-SIMS TFS-210 dispose également de plusieurs logiciels pour faciliter la préparation des échantillons et le traitement des données. Des tutoriels et des formations sont disponibles pour ceux qui ont besoin d'un accès plus approfondi aux données et aux capacités d'analyse. Dans l'ensemble, TOF-SIMS TFS-210 est un outil idéal pour la caractérisation en profondeur des surfaces, avec sa combinaison de haute résolution et une précision de masse supérieure. Grâce à sa flexibilité dans les techniques de préparation des échantillons et aux logiciels faciles à utiliser, ULVAC TOF-SIMS TFS-210 est parfait pour les chercheurs dans une grande variété de domaines.