Occasion NIKON NSR 4425i #9351452 à vendre en France

NIKON NSR 4425i Wafer Stepper est un outil de métrologie haute performance idéal pour les tâches avancées d'inspection des plaquettes. Il est capable de mesurer des motifs avec une résolution inférieure à 0,5 μ m en utilisant un champ de vision de 20mm x 20mm. Ce stepper est conçu pour la production de volume et l'inspection dans les installations de fabrication de semi-conducteurs. Il dispose d'un débit élevé pouvant atteindre 900 WPH par heure et d'une disposition efficace des composants. NIKON NSR-4425I Wafer Stepper offre une précision de mesure et une répétabilité supérieures pour garantir des résultats d'inspection précis et cohérents. Ceci est activé par la technologie ALIS (Advanced Light Interferometric Equipment) de Nikons qui permet un alignement automatique de 6 degrés de liberté en même temps que le contrôle de trajectoire au niveau du nanomètre. Ce système réduit considérablement le temps de cycle de mesure du motif. De plus, l'unité de contrôle de précision AF (Advanced Focus Control) offre une capacité d'auto-focus optimisée avec un temps d'exécution auto-focus encore réduit qui assure un haut niveau de précision de mesure. NSR 4425 I Wafer Stepper dispose également d'une machine d'imagerie haute performance, qui fournit une plage de grossissement variable de 50X à 400X. Cet outil peut générer des images en temps réel sans latence pendant le processus de mesure. Le stepper est également capable de capturer une image haute vitesse avec une vitesse de transfert maximale de 16 images/seconde. En outre, des options avancées d'éclairage sont disponibles qui comprennent le champ sombre, l'éclairage arrière, l'éclairage oblique, et l'éclairage semi-cercle super-résolu. NSR 4425i Wafer Stepper est également équipé de capacités de métrologie avancées telles que la mesure des dimensions critiques et la planéité de surface. En outre, il peut mesurer des motifs électrostatiques, des motifs d'or et des lignes minces opaques avec une grande précision. Ce stepper offre également une bibliothèque complète de reconnaissance de motifs avec des algorithmes de correspondance de motifs intégrés. Il dispose d'une fenêtre de configuration qui fournit un guidage visuel pour la configuration et l'optimisation des paramètres. Dans l'ensemble, le NIKON NSR 4425 I Wafer Stepper est un outil de métrologie hautement fiable et performant idéal pour les tâches d'inspection des plaquettes. Il offre une précision de mesure supérieure, un débit élevé et des capacités d'imagerie et de métrologie avancées. Ce stepper est un choix idéal pour les installations de fabrication de semi-conducteurs qui nécessitent des performances et une précision supérieures lors de leurs processus d'inspection des plaquettes.