Occasion ACCENT OPTICAL / PHILIPS ECV Pro #9301423 à vendre en France

ACCENT OPTICAL/PHILIPS ECV Pro est un équipement d'essai et de métrologie de plaquettes conçu pour répondre aux exigences strictes de la production de semi-conducteurs. Il comprend une série de composants optiques et d'inspections pour mesurer avec précision les paramètres physiques et électriques d'une plaquette, tels que la longueur de grille et la mesure du CD, sur une gamme de substrats, y compris le silicium, le silicium monocristallin et les matériaux composés. Le système est une solution complète de métrologie automatisée avec une unité d'analyse quantitative des plaquettes de haute précision et un microscope optique. La machine haute précision permet de mesurer avec précision les caractéristiques physiques et électriques sur une variété de tailles et de substrats de plaquettes, avec un taux d'erreur aussi bas que 0,05 nanomètres. Cela permet à l'outil d'identifier les particules fugitives et les défauts du film, ainsi que de fournir des caractéristiques détaillées de mesure de la longueur du CD et de la grille qui peuvent être utilisées pour optimiser le contrôle du processus et identifier les possibilités d'amélioration du produit. En plus des composants optiques de l'actif, PHILIPS ECV Pro fournit des capacités étendues d'analyse de données. En tirant parti de son ensemble complet d'algorithmes d'acquisition et d'analyse, le modèle peut déterminer les méthodes de traitement et de mesure des produits les plus efficaces en tenant compte des différents paramètres de production. Il est livré avec une gamme complète d'outils logiciels, compatibles avec les processeurs de série Windows 98 CMMS et HP 9000, qui permettent à l'équipement de fournir des fonctions d'analyse de données, de simulation et d'ajustement de courbe, et d'analyse de déviation. Les autres caractéristiques de ACCENT OPTICAL ECV Pro comprennent la détection et l'inspection des défauts, les essais multicouches, la métrologie des couches minces et les capacités de réflectométrie des plaquettes. Il ajoute également des fonctionnalités de traçabilité et d'enregistrement d'audit, et peut être interfacé avec des systèmes tiers pour l'analyse et le partage de données à distance. En se connectant aux systèmes de production et d'ingénierie, il donne aux utilisateurs la capacité de recevoir des mises à jour en temps réel des paramètres de wafer et de processus pour améliorer les opérations de production. Dans l'ensemble, ECV Pro est un excellent outil de test de plaquettes et de métrologie, fournissant des mesures précises et fiables des paramètres physiques et électriques dans un système automatisé très efficace. Son ensemble complet lui permet de répondre efficacement aux besoins d'une grande variété d'applications de production de semi-conducteurs.