Occasion ACCRETECH / TOKYO SEIMITSU Surfcom 590A-64 #9226927 à vendre en France

ACCRETECH/TOKYO SEIMITSU Surfcom 590A-64 est un équipement avancé d'essai et de métrologie de plaquettes conçu pour mesurer les propriétés de surface des plaquettes semi-conductrices et autres surfaces planes. Ce système est équipé d'un étage CNC (contrôle numérique par ordinateur) à 5 axes, lui permettant de scanner avec précision et précision la surface d'une plaquette selon les axes X, Y et Z. L'unité est également intégrée à un PTR (Platform Translation Rotator), permettant une cartographie automatisée du profil et de l'acquisition de données de profil de la plaquette. ACCRETECH Surfcom 590A-64 dispose d'une vitesse de balayage pouvant atteindre 200 mm/s ainsi que d'une fonction de focalisation automatique sur 2 axes, lui permettant de scanner et de mesurer des surfaces avec une extrême précision. TOKYO SEIMITSU Surfcom 590A-64 est équipé d'une machine de mesure haute vitesse avec un interféromètre de haute précision, laser, LED et optique interférométrique. Cet outil est capable de mesurer la surface avec une résolution pouvant atteindre 0,5 nm. L'actif comprend également des logiciels qui permettent d'analyser facilement les données mesurées. Toutes les données du modèle, y compris les données mesurées, peuvent être enregistrées dans une base de données pour l'analyse, la surveillance et la tendance futures. En outre, Surfcom 590A-64 est doté d'un large éventail de fonctionnalités et de fonctions qui facilitent l'utilisation, telles qu'un écran LCD (à cristaux liquides) permettant à l'utilisateur de surveiller tous les paramètres et fonctions de l'équipement, les routines d'étalonnage automatique et les conditions de mesure sélectionnables par l'utilisateur. Le système est également équipé d'un certain nombre de dispositifs de sécurité, tels que la protection contre les surcharges, la surveillance de la température unitaire et un dispositif d'arrêt d'urgence. Dans l'ensemble, ACCRETECH/TOKYO SEIMITSU Surfcom 590A-64 est une machine d'essai et de métrologie avancée et complète qui permet de mesurer et d'analyser les propriétés de surface des plaquettes semi-conductrices et autres surfaces planes. Avec sa grande précision, sa précision et son large éventail de caractéristiques et de fonctions, cet outil est un outil fiable pour une variété d'industries.