Occasion ACCRETECH / TSK E-MF1000-100 #9226931 à vendre en France

ACCRETECH / TSK E-MF1000-100
ID: 9226931
Taille de la plaquette: 8"
Wafer thickness measurement system, 8".
ACCRETECH/TSK E-MF1000-100 est un équipement de test et de métrologie de plaquettes hautement intelligent et très précis, provenant d'un des principaux fournisseurs de solutions de test de plaquettes. Ce système est conçu et construit pour rationaliser et automatiser les processus de test des plaquettes tout en maintenant les plus hauts niveaux de précision. TSK E-MF1000-100 comprend trois composants principaux, le module d'inspection, le module de mesure primaire et le bras d'inspection des plaquettes. Le module d'inspection est équipé d'une unité de manutention automatisée des plaquettes capable de transférer rapidement et avec précision les plaquettes de la cassette à la cassette. Il dispose également d'une machine optique sophistiquée qui est capable d'inspecter et de mesurer une variété de caractéristiques sur la surface de la plaquette, y compris les hauteurs, les épaisseurs, les fissures, les bulles, les ondulations, et plus encore. Le module de mesure primaire est équipé d'un microscope à réflexion haute résolution et d'un objectif, et est conçu pour détecter et mesurer de petites structures, telles que des nanoparticules, à la surface de la plaquette. Le bras d'inspection de la plaquette est doté d'une caméra intégrée, d'algorithmes de recherche puissants et d'un contrôle de balayage rapide qui lui permet de localiser rapidement et précisément les caractéristiques de la plaquette. ACCRETECH E MF1000 100 offre de nombreux avantages par rapport aux systèmes traditionnels de test des plaquettes. Son outil optique très sensible peut détecter même les défauts les plus infimes sur la surface de la plaquette. Son outil automatisé de manutention des plaquettes améliore la précision et la vitesse du transfert des plaquettes, réduisant ainsi la probabilité de mesures incorrectes ou de dommages dus à la manutention manuelle. La caméra intégrée et les algorithmes avancés du bras d'inspection des plaquettes rendent le balayage rapide et efficace. En outre, TSK E MF1000 100 est hautement personnalisable, et est en mesure d'intégrer harmonieusement avec d'autres instruments de métrologie, tels que SEM, machines à rayons X, etc. pour fournir à l'utilisateur des données de métrologie encore plus précises et complètes. Dans l'ensemble, E-MF1000-100 est une solution puissante, intuitive et précise de test de plaquettes et de métrologie qui fournit des résultats fiables et une productivité accrue. C'est le choix idéal pour ceux qui ont besoin du plus haut niveau de précision et d'efficacité dans leurs besoins de métrologie.
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