Occasion ACCRETECH / TSK E-MF1000-100 #9399112 à vendre en France

ACCRETECH / TSK E-MF1000-100
ID: 9399112
Wafer thickness measurement system.
ACCRETECH/TSK E-MF1000-100 est un équipement d'essai et de métrologie des plaquettes de pointe conçu pour maximiser le rendement, le débit et la précision pendant le processus de fabrication des semi-conducteurs. Il est capable de fournir une gamme complète de services d'essai et de métrologie des plaquettes, y compris la cartographie des plaquettes, les essais électriques et la métrologie. TSK E-MF1000-100 utilise une structure optique avancée, qui fournit une résolution d'imagerie supérieure, un débit amélioré et des performances fiables pour un dimensionnement critique précis et la mesure de la contrainte du film. Sa conception optique efficace permet une mesure rapide et précise des largeurs de lignes critiques, des tailles de boucles de contact et des profondeurs de profil, permettant une cartographie précise des plaquettes et la reconnaissance des défauts. ACCRETECH E MF1000 100 est livré avec des capacités de test électrique avancées, y compris des tests de courant multicanaux, des mesures de tension précises, des mesures de tension de balayage et des unités d'acquisition de données multifactorielles. Cela permet de tester et de valider avec efficacité et précision les dispositifs d'analyse des fuites électriques et des non-idéalités d'intégration des processus. E MF1000 100 est capable de supporter un large éventail d'activités liées à la métrologie et à la métrologie, y compris la mesure de contraintes, la mesure de l'épaisseur de dictage et le collage, les essais micro-résistants et la mesure de la hauteur du fil. Tous ces paramètres peuvent être mesurés avec précision à l'aide d'une grande variété de techniques de mesure, y compris les sondes sans contact, les sondes volantes et les sondes capacitives. E-MF1000-100 est également livré avec une plate-forme système entièrement intégrée et automatisée, qui lui permet d'effectuer de nombreux essais et tâches simultanément, de réduire au minimum le délai de mise sur le marché de nouveaux produits, et d'améliorer les rendements sur les lignes de production existantes. Cela comprend la manutention automatique des plaquettes, la reconnaissance robotique et une suite de composants automatisés de chargement et d'essai des produits. Enfin, TSK E MF1000 100 est également équipé d'un logiciel avancé qui fournit un niveau inégalé de contrôle et de support pendant le processus de test et de métrologie. Ce logiciel permet aux utilisateurs de personnaliser des processus adaptés à des applications spécifiques au niveau des plaquettes, tout en offrant un environnement fluide qui optimise les performances des appareils et assure des résultats fiables. En résumé, ACCRETECH E-MF1000-100 est une unité de test et de métrologie avancée conçue pour maximiser le rendement, le débit et la précision dans le processus de fabrication des semi-conducteurs. Avec sa structure optique de pointe, ses capacités complètes de test électrique, sa plate-forme de machine intégrée et son progiciel, ACCRETECH/TSK E MF1000 100 offre une vaste gamme de capacités, ce qui en fait une solution idéale pour les besoins de test et de métrologie de l'industrie moderne des semi-conducteurs.
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