Occasion ACCRETECH / TSK JP/E-RM-S07A #293637884 à vendre en France

TSK JP/E-RM-S07A est un équipement d'essai et de métrologie avancé conçu pour fournir une assurance qualité dans les environnements de production de semi-conducteurs. Le système se compose d'une unité d'inspection et d'analyse, d'une unité intégrée de détection et de mesure et d'une unité de contrôle et de communication. L'unité d'inspection et d'analyse est responsable de l'assurance de la qualité initiale des plaquettes brutes avant leur envoi à la transformation. L'unité utilise une technologie d'imagerie avancée pour capturer des images haute résolution de chaque face de plaquette entrante, ce qui permet une inspection de qualité détaillée. L'unité de détection et de mesure intégrée est le lieu où des contrôles métrologiques sont effectués. Il contient un bras mécanique et une gamme de capteurs qui mesurent une large gamme de caractéristiques de plaquettes, de la forme globale et la taille aux paramètres d'éléments individuels. Cette unité est également capable de suivre des images de haute précision, ce qui permet de visualiser avec précision les caractéristiques de défaut. Enfin, l'unité de contrôle et de communication de l'unité collecte des données des deux autres unités et les transmet à une base de données ou à d'autres systèmes logiciels externes. Cette unité fournit également à l'utilisateur une interface intuitive, permettant aux opérateurs de surveiller l'ensemble du processus en temps réel. La machine ACCRETECH JP/E-RM-S07A est la solution idéale pour tout environnement de production de semi-conducteurs nécessitant une assurance qualité fiable. En combinant l'imagerie de précision, la métrologie haute résolution et une infrastructure de communication robuste, cet outil permet de rationaliser et d'automatiser l'ensemble du processus, de l'inspection des plaquettes entrantes à la caractérisation des défauts et à la génération de rapports.