Occasion ACCRETECH / TSK Surfcom 2000DX #293606726 à vendre en France

ACCRETECH/TSK Surfcom 2000DX est un équipement d'essai et de métrologie de plaquettes conçu pour fournir des mesures précises des surfaces adjacentes, ainsi que d'autres caractéristiques de substrat. Le système se compose de deux composants : l'unité principale et une table rotative automatisée. L'unité principale abrite une caméra CCD et un étage linéaire, qui peut se déplacer à travers la plaquette pour mesurer ses caractéristiques. La table tournante peut être utilisée pour régler l'angle ou l'inclinaison de la plaquette, permettant de mesurer la topologie de surface en trois dimensions. TSK Surfcom 2000DX utilise une caméra CCD haute résolution, qui peut capturer jusqu'à deux millions de pixels. En combinant cette optique de précision avec des algorithmes logiciels intégrés, l'unité est capable de détecter et de mesurer des caractéristiques avec une précision allant jusqu'à 30nm. Cela lui permet de mesurer des caractéristiques telles que des longueurs de lin, des tranchées, une hauteur de pas, une rugosité de surface transversale et des remplissages diélectriques inter-couches. L'unité dispose également d'une machine de traitement d'image qui peut traiter plusieurs images en temps réel. Cet outil combine des techniques de traitement d'images numériques avec des algorithmes avancés de reconnaissance de motifs pour extraire les mesures critiques des images de la plaquette. Le logiciel comprend également un puissant atout de visualisation qui affiche les images et mesures capturées dans des formats 2D et 3D. Le modèle est également capable d'effectuer des comparaisons et des analyses Die-to-Film (DTF). Ce procédé permet de comparer avec précision les caractéristiques de surface du substrat aux motifs topographiques enregistrés dans une « bibliothèque de films ». Enfin, l'équipement supporte un large éventail de fonctions de métrologie, telles que les tests de contrainte, l'analyse de circuits intégrés, la mesure de l'épaisseur du revêtement et la cartographie des plaquettes sans contact. Globalement, ACCRETECH Surfcom 2000DX est un puissant système de test et de métrologie de plaquettes capable de fournir des mesures précises des surfaces adjacentes et d'autres caractéristiques du substrat. Sa combinaison d'optiques et d'algorithmes logiciels lui permet de capturer et d'analyser des images avec une précision allant jusqu'à 30nm, tandis que ses algorithmes de reconnaissance de motifs et ses outils de visualisation permettent aux utilisateurs d'analyser rapidement les données. Enfin, l'unité est capable d'effectuer une comparaison et une analyse DTF pour déterminer la topographie précise de la plaquette.