Occasion ACCRETECH / TSK Surfcom 578A #9399109 à vendre en France

ACCRETECH/TSK Surfcom 578A est un équipement puissant et polyvalent de test de plaquettes et de métrologie qui est utilisé dans le traitement des semi-conducteurs. Les caractéristiques avancées et la puissance de traitement du système permettent de tester des plaquettes de différentes tailles et types avec une précision et une vitesse inégalées. L'unité est livrée avec des outils logiciels d'imagerie et d'analyse tels que le profil, la vitesse et la détection des défauts. Ces outils fournissent des informations quantitatives qui permettent aux utilisateurs d'analyser et d'optimiser avec précision la plaquette à n'importe quelle étape du processus de production. TSK Surfcom 578A dispose d'une scène de balayage de haute précision, d'une grande surface de vision et d'une large gamme de capteurs mécaniques et optiques intégrés. Cela permet d'effectuer une grande variété de mesures et d'analyses sur la plaquette, y compris la sonde non destructive, l'imagerie en vue multiple et le multi-layérisme. La machine est conçue pour garantir des résultats de la plus haute qualité, avec un rapport coût-efficacité adapté à différents budgets. ACCRETECH Surfcom 578A propose des outils logiciels avancés pour créer des algorithmes de test spécialisés et reproduire des processus spécifiques afin de simuler des environnements de test de plaquettes. Il a également la capacité d'économiser des recettes pour la mise en œuvre ultérieure et la comparaison pour vérifier la cohérence. Les algorithmes intégrés d'analyse d'image et les outils de révision des défauts permettent à l'utilisateur d'enquêter sur l'infrastructure, les irrégularités de surface et les défauts de fonctionnalités fines. Les fonctions multi-couches de balayage, d'imagerie et de réglage fin de l'outil permettent aux utilisateurs d'obtenir des images précises et détaillées de la plaquette. L'actif peut également effectuer une gamme de mesures complexes telles que l'épaisseur statique et dynamique de l'oxyde, l'épaisseur du film, la planéité de surface et les inspections optiques sans contact physique. Le modèle est conçu pour garantir des résultats de la plus haute qualité et est un choix approprié pour des tests de wafer et de métrologie de haut volume et de haute précision.