Occasion ADE / KLA / TENCOR 3910 #149419 à vendre en France

ADE/KLA/TENCOR 3910 est un équipement d'essai de plaquettes et de métrologie conçu pour être utilisé dans les laboratoires de métrologie à semi-conducteurs. Ce système permet la caractérisation et les tests de fiabilité de divers dispositifs semi-conducteurs, permettant aux entreprises de répondre à leurs exigences de qualification et de production de produits. L'unité ADE 3910 comprend l'analyseur 39100, la machine de mesure automatisée 39130 (AMS) et l'outil de mesure de soudure automatisée 39165 (ASMS). Le 39100 Analyzer dispose d'un atout de positionnement 7 axes et d'une caméra CCD haute résolution. Cette combinaison permet des mesures sans contact et non destructives de la surface de la plaquette, y compris les dimensions critiques (CD), l'inspection visuelle, l'analyse en couches minces et les mesures au niveau de la matrice. Le 39130 AMS a été conçu pour gérer l'analyse de données de métrologie multi-axes et multi-motifs, permettant de tester et de mesurer simultanément les surfaces supérieure et inférieure d'une plaquette. Ce modèle peut gérer à la fois de grandes et de petites structures et dispose d'une caméra à balayage par taches haute résolution et de deux scanners parallèles pour le positionnement des échantillons, permettant un balayage de surface de haute qualité des fonctions jusqu'à une résolution de 5 micromètres. Le 39165 ASMS est spécifiquement conçu pour tester et mesurer l'intégrité des joints de soudure et des plots de liaison sur les plaquettes semi-conductrices. Il acquiert automatiquement des images des bosses de soudure et peut mesurer leur hauteur et largeur avec une grande précision de 0,5 micromètre. En outre, l'équipement est conçu pour détecter les vides, les billes, les nodules et d'autres défauts trouvés sur les joints de soudure. En plus des systèmes d'assurance de la qualité, KLA 3910 offre une large gamme d'outils de métrologie au niveau des plaquettes, y compris l'analyse des défauts mous et des causes profondes, la détection des défauts de glissement de phase, la vitesse d'inspection des défauts, et les mesures d'uniformité de grande surface et de largeur de ligne. 3910 dispose également d'un utilitaire d'étalonnage qui permet d'affiner les mesures de métrologie et les analyses automatisées des données topographiques au niveau de la matrice. Dans l'ensemble, TENCOR 3910 est une unité tout-en-un qui combine les capacités de plusieurs systèmes de métrologie sophistiqués. Il permet l'analyse complète des plaquettes semi-conductrices, garantissant la performance et la fiabilité des produits semi-conducteurs. Avec sa flexibilité et sa précision, ADE/KLA/TENCOR 3910 fournit aux ingénieurs une solution de caractérisation complète et fiable.