Occasion ADE / KLA / TENCOR 3910 #9301295 à vendre en France

L'équipement ADE/KLA/TENCOR 3910 Wafer Testing and Metrology est un système automatisé de pointe utilisé pour évaluer les changements dans les dispositifs semi-conducteurs et les matériaux tels que les wafers. L'unité est équipée de systèmes de macro et micro-inspection pour fournir des données précises sur l'état de la plaquette. La macro-inspection inspecte toute la surface de la plaquette et est capable de détecter les problèmes de rendement liés à la lithographie à grande échelle. L'outil de micro-inspection utilise l'imagerie haute résolution et la spectroscopie pour détecter les défauts individuels à des résolutions de 0. 5 μm ou plus haut. L'actif est équipé de matériel de transport et de mise en scène pour indexer et transporter les plaquettes dans les stations et par le biais du processus d'inspection et de métrologie. Ce modèle est conçu pour assurer le contrôle en temps réel des processus et des procédures de travail. En outre, ADE 3910 dispose d'un contrôleur d'équipement avancé qui intègre le transfert de données, la manipulation des plaquettes, l'inspection et le logiciel de mesure pour les essais des plaquettes semi-conductrices. KLA 3910 est capable de reconnaître rapidement les défauts à des résolutions allant jusqu'à 0,3 μ m. Le système utilise des techniques automatisées de reconnaissance des défauts au lieu d'une inspection microscopique manuelle intensive en main-d'oeuvre. Cela aide à fournir des données rapidement et avec précision. L'unité peut également mesurer des caractéristiques optiques telles que la résistivité, la topographie, le courant d'obscurité, la résistance des feuilles et la capacité. La machine dispose également de fonctionnalités avancées de métrologie incluant rugosité, topographie de surface, profil, planéité, hauteur, et plus. Cela permet d'analyser la linéarité des caractéristiques, les dimensions critiques, la superposition, et plus encore. 3910 permet également de mesurer des formes 3D y compris des bosses et des plaquettes avec une précision micro-niveau. Dans l'ensemble, TENCOR 3910 Wafer Testing and Metrology est un outil de test et de métrologie automatisé avancé conçu pour fournir des données précises rapidement et efficacement pour les dispositifs et matériaux semi-conducteurs modernes. Avec une large gamme de capacités d'imagerie haute résolution et de métrologie, ADE/KLA/TENCOR 3910 est un choix idéal pour les essais de plaquettes semi-conductrices et les applications de métrologie.