Occasion ADE / KLA / TENCOR 9600 #9229873 à vendre en France

Il semble que cet article a déjà été vendu. Consultez les produits similaires ci-dessous ou contactez-nous et notre équipe expérimentée le trouvera pour vous.

ID: 9229873
Wafer inspection system (2) Cassette input stations (3) Cassette output stations Prealigner station Hi-RES Station E-PLUS Advanced / Thickness B/W Station Signal effector am robot 9600 Power supply Non contact P/N type tester for wafer resistivity: 0.1 to 200 ohm-cm ADE 350 Arm controller Auto A probe ASC Controller.
ADE/KLA/TENCOR 9600 est un équipement d'essai et de métrologie de plaquettes conçu pour fournir des mesures de haute précision de la topographie 3D et des propriétés de surface à partir de la solution de traitement et des matériaux appliqués aux plaquettes. Il offre la flexibilité requise pour la recherche et le développement de pointe, ainsi que la fiabilité requise pour les applications de production commerciale. Fonctionnant sur un principe de scatterométrie à double faisceau, sans contact, le système dispose de capacités d'analyse rapides et précises. Il utilise une caméra CCD infrarouge (IR) pour recueillir des données topographiques à partir de signaux de diffusion optique provenant des échantillons testés. L'unité fonctionne sur une gamme de longueurs d'onde d'excitation dans un contexte unique de large bande et d'imagerie. Il en résulte une évaluation plus précise des propriétés du film et de la texture et une mesure totale de 1000 points ou plus par seconde. La machine offre également une imagerie de contraste de tension (VCI) en plein champ ou en un seul point avec contrôle de rétroaction intégré. Cette fonctionnalité permet de capturer des images et des profils de surface de nanomatériaux sur des plaquettes non alignées, ce qui aide à caractériser la planéité et la page de guerre des plaquettes. En plus des capacités de métrologie, ADE 9600 dispose de capacités d'analyse de plaquettes sans contact, permettant à l'utilisateur de mesurer jusqu'à 100 films ou couches sur une seule plaquette. Il utilise un résonateur à cavité globale pour mesurer l'épaisseur de la plaquette à une résolution plus élevée que les techniques classiques de mesure de contact. L'optique avancée et le traitement d'image intégré dans KLA 9600 en font un choix idéal pour les environnements de recherche et de production. Les capacités de débit maximum, d'imagerie descendante et de cartographie font de 9600 l'outil parfait pour examiner le produit au niveau de la plaquette. Ses commandes logicielles intégrées permettent à l'utilisateur de configurer les paramètres du processus et de suivre, suivre et analyser les résultats des tests des plaquettes. En conclusion, TENCOR 9600 est un outil essentiel pour toute recherche sur les semi-conducteurs et tout environnement de fabrication. Ses capacités de mesure de haute précision et de pointe rationalisent le processus d'essai et de métrologie des plaquettes, ce qui permet d'obtenir des données de mesure plus précises. Avec un large éventail de techniques de cartographie, d'imagerie et d'analyse, ADE/KLA/TENCOR 9600 garantit des performances et une fiabilité élevées lors des tests de plaquettes les plus exigeants.
Il n'y a pas encore de critiques