Occasion ADE / KLA / TENCOR 9600 #9234990 à vendre en France

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ADE / KLA / TENCOR 9600
Vendu
ID: 9234990
Wafer inspection system.
ADE/KLA/TENCOR 9600 est un équipement avancé d'essai de plaquettes et de métrologie conçu pour le contrôle de la qualité et l'optimisation des processus dans le processus de fabrication des semi-conducteurs. Il permet une caractérisation rapide, précise et précise des surfaces et des motifs des plaquettes, permettant aux opérateurs de minimiser les pertes de rendement coûteuses. Le système utilise des techniques avancées de métrologie optique sans contact, y compris des opérations multiples d'imagerie, de mesure et d'analyse d'images. Il dispose d'une caméra CCD couleur intégrée (appareil à couplage de charge) et d'un capteur de diffraction laser avec une plage d'inspection de 8 pouces. Il comprend également une unité de focalisation automatique et un algorithme de pointe pour la reconnaissance automatique rapide et précise des motifs. Cette machine de métrologie supporte une variété de techniques de mesure. Il peut mesurer des dimensions critiques telles que des largeurs de ligne, des espacements de ligne, des points d'extrémité de ligne et des angles de ligne, ainsi que des paramètres plus complexes comme le contour total de ligne. Il supporte également l'ellipsométrie spectroscopique pour mesurer diverses épaisseurs et indices de réfraction pour la caractérisation de couches minces. L'ADE 9600 est intégré au dernier logiciel de contrôle statistique des processus (RCP) qui permet l'évaluation et l'analyse de grands lots de production. L'outil est livré avec une large gamme d'outils logiciels spécialisés, tels que la détection de bord, la cartographie de l'échelle de gris, et l'analyse des dimensions critiques. Cela permet à l'opérateur de traiter rapidement de grandes quantités de données provenant de nombreuses plaquettes et d'identifier facilement les unités non conformes. KLA 9600 dispose d'un environnement de construction d'applications programmable qui peut être utilisé pour créer des solutions de test de semi-conducteurs personnalisées. Cela inclut de puissants algorithmes de reconnaissance de motifs, des bibliothèques de scripts de mesure prêts à l'emploi et une prise en charge complète des langages de programmation externes tels que C, C++ et Visual Basic. Enfin, l'actif dispose d'un écran tactile haute résolution de 5,7 pouces combiné à une interface graphique très intuitive (interface graphique). Cela facilite les opérations de métrologie, réduisant les erreurs de l'utilisateur et le temps nécessaire à la réalisation des mesures. 9600 est un puissant modèle d'essai et de métrologie de plaquettes conçu pour aider les fabricants à améliorer la qualité et l'efficacité de leur processus de production de semi-conducteurs. Grâce à ses techniques avancées de métrologie optique sans contact, aux algorithmes de reconnaissance de pointe de l'industrie et aux outils logiciels polyvalents, il permet aux utilisateurs d'identifier et d'analyser rapidement les défauts sur les surfaces des plaquettes.
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