Occasion ADE / KLA / TENCOR AFS 3220 #293645321 à vendre en France

L'ADE/ASF 3220 est un équipement d'essai de plaquettes et de métrologie utilisé pour mesurer les caractéristiques physiques et électriques des plaquettes à semi-conducteurs, y compris les concentrations de dopants. Le système contient une foule d'instruments spécialisés qui sont conçus pour exécuter une variété de tâches liées à l'assurance de la qualité des plaquettes. Les systèmes d'essai et de métrologie des plaquettes comprennent une unité d'acquisition de données accessible sur le Web qui fournit une interface conviviale et une plate-forme sécurisée et évolutive pour la collecte de données provenant des activités d'essai et de mesure. Cette machine supporte plusieurs systèmes d'exploitation tels que Windows et Linux et permet la planification automatisée de multiples processus de tests et de métrologie. L'outil comprend également un logiciel puissant pour la manipulation des données et l'analyse statistique. Cet atout peut analyser des plaquettes simples ou multiples en utilisant la microscopie électronique à balayage rapide et des techniques d'imagerie avancées. La taille et la forme de la plaquette sont également des propriétés importantes et peuvent être mesurées avec l'outil automatisé de mesure de la forme et de la taille de la plaquette du modèle. Il peut également mesurer les concentrations de dopants dans les plaquettes d'essai en utilisant la spectroscopie optique de luminescence. D'autres tests tels que le profilage de profondeur pour mesurer les profils d'interface et la microscopie de capacité de balayage pour l'optimisation du rendement peuvent également être réalisés avec l'équipement. Le système s'intègre également à une suite de logiciels qui permettent une analyse facile des ensembles de données recueillies au cours du processus de test. Les bibliothèques logicielles de pointe permettent de faire face à des tâches d'analyse complexes. L'unité supporte également une variété d'interfaces utilisateur graphiques, permettant aux utilisateurs d'évaluer rapidement les paramètres de surface des plaquettes et les architectures complexes des dispositifs. Dans l'ensemble, la machine d'essai et de métrologie ADE/KLA/TENCOR AFS 3220 fournit des capacités d'essai complètes et complètes. Cet outil avancé permet aux utilisateurs de mesurer avec confiance les paramètres physiques et électriques des plaquettes semi-conductrices pour garantir la plus haute qualité. L'actif fournit une interface conviviale et des outils d'analyse logicielle avancés qui peuvent être appliqués à une variété de différentes tâches de comptage et de métrologie.