Occasion ADE / KLA / TENCOR AFS 3220 #293645326 à vendre en France

ADE/KLA/TENCOR AFS 3220 Wafer Testing and Metrology Equipment est un système robuste qui combine une inspection avancée des images, une métrologie entièrement intégrée et une technologie de manutention automatisée des wafer permettant l'évaluation de divers paramètres de wafer. Avec ses systèmes uniques d'imagerie « Dual-Energy » et de métrologie avancée, l'ADE AFS 3220 est utilisé dans l'industrie de la fabrication de semi-conducteurs pour identifier et mesurer l'uniformité des particules, des bosses et d'autres défauts sur les substrats de silicium. L'unité est la première du genre, conçue avec une technique brevetée d'imagerie Dual-Energy qui est capable de capturer deux images à la fois, chaque image représentant un spectre de longueurs d'onde différent. Cela permet une analyse détaillée des particules, des bosses et d'autres irrégularités à la surface de la plaquette, ainsi qu'une comparaison efficace entre des substrats similaires pour identifier les différences éventuelles. KLA AFS 3220 dispose également de capacités de métrologie avancées qui permettent la mesure et la caractérisation précises des particules, des bosses et d'autres irrégularités sur la surface de la plaquette. Cela comprend la capacité de mesurer la taille, la forme et l'emplacement des caractéristiques, ainsi que la capacité de générer des données qui montrent la variation à travers la surface de la plaquette. La machine comprend également un outil automatisé de manutention des plaquettes qui met à profit une interface graphique utilisateur intuitive et un robot automatisé capable de charger et décharger les plaquettes de l'AFS 3220. Cela garantit que les plaquettes sont manipulées de manière sécuritaire, sécuritaire et efficace, ce qui réduit les temps d'arrêt et augmente la vitesse et la précision globales du processus d'inspection. L'AFS 3230 est conçu pour être à haut débit et rentable, fournissant des résultats précis et fiables en un seul actif autonome. Le modèle est capable de vérifier automatiquement les irrégularités et les défauts, de trier et de mesurer les particules, les bosses et autres irrégularités sur une variété de substrats de manière répétable et cohérente. En combinant les capacités avancées d'imagerie et de métrologie avec un équipement automatisé de manutention des plaquettes, TENCOR AFS 3220 fournit la solution optimale pour les fabricants de semi-conducteurs pour maintenir leurs lignes de production avec la plus haute qualité et efficacité.