Occasion ADE / KLA / TENCOR AFS 3220 #293645327 à vendre en France
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ID: 293645327
Taille de la plaquette: 12"
Style Vintage: 2021
Wafer inspection system, 12"
Flatness measuring
2021 vintage.
ADE/KLA/TENCOR AFS 3220 est un équipement d'essai et de métrologie de wafer de pointe conçu pour la haute précision, la mesure de haut débit et l'essai des composants semi-conducteurs. Il permet d'évaluer et de contrôler la qualité des plaquettes semi-conductrices tout au long du processus de fabrication, du début à la fin. Le système fournit un ensemble complet de capacités pour l'essai de plaquettes et la métrologie et a été conçu pour les environnements de production. L'unité dispose d'un moteur d'imagerie CCD haute précision et haute vitesse, qui est capable de produire des images jusqu'à 160 mégapixels de résolution. Ce puissant moteur d'imagerie est combiné à une machine laser et optique de haute précision, ce qui lui permet de mesurer avec précision les caractéristiques critiques d'une plaquette à semi-conducteur. L'outil laser de précision peut mesurer des caractéristiques aussi petites que 0,4 micromètre et les référencer correctement à la surface de la plaquette pour un alignement et une répétabilité précis. L'actif est capable de détecter un large éventail de défauts de semi-conducteurs avec ses outils d'analyse des défauts. Il utilise des techniques avancées de reconnaissance des motifs pour identifier et classer avec précision les défauts dans un large éventail de paramètres tels que la taille, la forme et l'emplacement. Le modèle possède également un contrôle avancé de la superposition et de la dimension critique (DCO), qui lui permet de mesurer les décalages de la matrice à la matrice, de la tranche à la plaquette et de la matrice à la plaquette avec une précision et une répétabilité élevées. Cela garantit que toutes les mesures des plaquettes sont cohérentes et fiables. La série complète d'outils de rapport et d'analyse de l'ADE AFS 3220 fournit des informations concrètes sur le processus de fabrication. Il est en mesure de fournir une analyse statistique détaillée des données sur la production, le rendement et la qualité, ce qui permet aux ingénieurs de processus d'identifier et de traiter rapidement les problèmes de processus. L'équipement comprend également une série d'outils d'affichage qui fournissent une visualisation en temps réel des données de production, permettant aux utilisateurs d'identifier rapidement les tendances et les problèmes de traitement. En résumé, le KLA AFS 3220 est un puissant système d'essai et de métrologie de plaquettes capable de fournir des résultats de haute précision dans un environnement de production. L'unité est capable de détecter une gamme de défauts et son ensemble complet d'outils de compte rendu et d'analyse fournit un aperçu précis du processus de fabrication.
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