Occasion ADE / KLA / TENCOR AFS 3220 #293645328 à vendre en France

ADE/KLA/TENCOR AFS 3220 est un équipement d'essai et de métrologie de plaquettes de haute performance qui est optimisé pour la caractérisation des dispositifs semi-conducteurs et des matériaux. Ce système dispose d'une capacité brevetée de charge automatique et de déchargement qui gère facilement la plaquette jusqu'à 8 pouces de diamètre. Avec une technologie de stabilisation de focalisation (AFS) entièrement automatique, l'unité maintient automatiquement une focalisation stable pendant les opérations de référencement et de métrologie des plaquettes, même lorsque la position de la plaquette change sans réglage manuel. La machine ADE AFS 3220 offre un certain nombre de capacités de métrologie puissantes à l'utilisateur, en commençant par des capacités de numérisation et d'imagerie de surface supérieure et inférieure. La technologie optique de pointe intégrée dans l'outil fournit une plus grande précision et précision que les méthodes traditionnelles et améliore la répétabilité des mesures. Grâce à son balayage haute résolution, les utilisateurs peuvent détecter les micro-défauts et les artefacts d'imagerie, ce qui peut réduire considérablement les déchets de plaquettes. Pour la détection de défauts/particules, la métrologie CD traditionnelle et d'autres opérations de métrologie automatisée, les algorithmes logiciels avancés garantissent que des résultats très précis sont obtenus rapidement. En plus de ses performances inégalées, KLA AFS 3220 wafer test et métrologie actif offre également une large gamme d'autres fonctionnalités et avantages, tels qu'un modèle d'examen automatisé des défauts spécialement conçu qui permet aux utilisateurs d'identifier et de qualifier rapidement les défauts avec une grande précision. Cet équipement dispose également de recettes de test personnalisables pour personnaliser les paramètres du système en fonction du type de produit échantillonné - ce qui aide à améliorer le rendement et le débit. D'autres caractéristiques de TENCOR AFS 3220 comprennent une conception de bruit ultra-faible pour des mesures de haute précision et une unité de vision avancée pour l'enregistrement complet des plaquettes, l'alignement des sous-pixels et la détection et la qualification des défauts. En conclusion, la machine d'essai et de métrologie des plaquettes AFS 3220 fournit une solution efficace et fiable pour la caractérisation des appareils et des matériaux. Doté d'un balayage de surface supérieur et inférieur, d'une technologie avancée de stabilisation de la focale, d'un outil automatisé d'examen des défauts, de recettes d'essai personnalisables, d'une conception de bruit ultra-faible et d'un atout de vision avancé, le modèle est conçu pour fournir à ses utilisateurs des résultats toujours précis.