Occasion ADE / KLA / TENCOR AFS 3220 #293645333 à vendre en France

ADE/KLA/TENCOR AFS 3220 Wafer Testing and Metrology Equipment est un système automatisé de métrologie des semi-conducteurs conçu pour la surveillance automatisée à haut débit des wafers dans le processus de production. L'unité est une plate-forme d'outils entièrement intégrée et automatique conçue à partir d'algorithmes et de logiciels avancés couplés à une machine de manutention automatisée des plaquettes. ADE AFS 3220 est conçu pour la mesure rapide et précise des plaquettes. L'outil comprend la métrologie optique multi-capteurs, la dynamique des processus et l'inspection des défauts, la gestion des données et la corrélation de plusieurs plaquettes. KLA AFS 3220 utilise plusieurs capteurs pour mesurer simultanément les paramètres des plaquettes sur toute la face de la plaquette en peu de temps. Le balayage point à point est disponible dans les spectres visible et infrarouge avec précision jusqu'à 10 nanomètres. La cartographie des plaquettes est également disponible avec centrage automatisé des plaquettes. Des défauts sur la plaquette peuvent être détectés à raison de plusieurs milliers d'heures. L'AFS 3220 possède plusieurs capacités avancées de contrôle et de diagnostic des processus, comme l'examen intégré des défauts, la rétroaction des processus et la surveillance des processus. Cela permet d'automatiser rapidement le processus de production et d'améliorer les rendements et les économies de coûts dans un lot donné. En outre, l'actif de gestion des données fournit des données complètes de métrologie des plaquettes et peut être intégré dans les systèmes d'automatisation en usine. TENCOR AFS 3220 dispose d'une interface intuitive conviviale avec divers affichages graphiques pour la révision et l'analyse des données. Cela permet un accès facile aux paramètres du modèle et un examen approfondi des résultats. L'équipement est également équipé d'autodiagnostics embarqués et de routines d'étalonnage automatisées. Dans l'ensemble, ADE/KLA/TENCOR AFS 3220 Wafer Testing and Metrology System de l'ADE est une unité entièrement automatisée et intégrée conçue pour assurer une surveillance précise, rapide et sans DRAM des wafers dans le processus de production. La machine comprend plusieurs composants intégrés tels que la métrologie optique multi-capteurs, la dynamique des processus et l'inspection des défauts, la gestion des données et la corrélation de plusieurs plaquettes, les routines d'étalonnage automatisées, etc. qui en font un excellent choix pour les fabricants à haut rendement.