Occasion ADE / KLA / TENCOR AFS 3220 #293660055 à vendre en France

ADE/KLA/TENCOR AFS 3220 est un équipement d'essai et de métrologie de plaquettes haut de gamme utilisé pour la métrologie et l'inspection des plaquettes. Ce système se compose d'un interféromètre à cisaillement laser multicanal et d'un profileur de surface laser 3D. Il comporte 64 canaux laser et est utilisé pour la mesure et l'imagerie de la topographie de surface sur les deux plaquettes et la matrice. L'ADE AFS 3220 offre également une gamme d'applications logicielles pour l'analyse des données de surface et l'inspection des plaquettes. L'interféromètre laser KLA AFS 3220 est conçu pour mesurer la hauteur de surface d'un échantillon en utilisant deux lasers et un faisceau de séparation. Cela permet une mesure très précise sur une large gamme de surfaces. Le profileur laser 3D utilise une unité de balayage haute résolution pour fournir des vues détaillées de la surface de l'échantillon. Il peut inspecter la topographie avec une précision de sous-nanomètre dans une zone allant jusqu'à 200mm. L'AFS 3220 a également plusieurs applications logicielles pour l'analyse des données et l'inspection des plaquettes. Ceux-ci incluent WaferMap™, qui est un paquet de logiciel pour l'analyse automatisée de topographie de gaufrette et la détection de défaut. Un autre outil, Deformetrica™, est conçu pour mesurer et analyser la hauteur de surface d'un échantillon en trois dimensions. En outre, il peut détecter et analyser des motifs sur la surface de l'échantillon qui sont indicatifs de défauts de plaquette. TENCOR AFS 3220 est une puissante machine d'essai et de métrologie de plaquettes qui est utilisée pour des mesures très précises des plaquettes et des surfaces de matrices. Avec son interféromètre à cisaillement laser et son profileur de surface laser 3D, l'ADE/KLA/TENCOR AFS 3220 offre des vues détaillées de la topographie de surface, permettant une détection et une caractérisation rapides des défauts des plaquettes. En outre, sa suite de logiciels fournit une analyse automatisée de la hauteur de surface de l'échantillon et de la capacité de mesure du motif. Ensemble, l'ADE AFS 3220 fournit une solution complète pour l'essai de plaquettes et la métrologie.