Occasion ADE / KLA / TENCOR AFS 3220 #293771675 à vendre en France

ADE AF S3220 est un équipement d'essai et de métrologie de plaquettes à haute performance pour l'industrie des semi-conducteurs. Ce système utilise une technologie d'imagerie et de métrologie de pointe pour inspecter, mesurer et analyser les plaquettes et autres dispositifs semi-conducteurs. ADE/KLA/TENCOR AFS 3220 est une unité automatique à grande vitesse qui fonctionne sur une machine de contrôle en boucle fermée. Ce procédé assure des mesures de surface précises des plaquettes et des couches à couches minces au niveau du nanomètre. L'outil est capable de tester des plaquettes avec une gamme de tailles allant jusqu'à huit pouces (203,2 mm) de diamètre. En outre, ADE AFS 3220 a un champ de vision configurable allant de 20 mm à 450 mm. La KLA AFS 3220 intègre des techniques avancées d'imagerie et de métrologie pour l'essai des plaquettes de précision. Cela inclut la défocalisation codée en phase (PCD), qui mesure avec précision les caractéristiques des plaquettes et produit des images de contraste élevé. Le balayage à haute vitesse est utilisé pour acquérir rapidement des images tridimensionnelles en profondeur. Scanning Electron Microscopy (SEM) fournit une vue détaillée de la topographie de surface sous un faisceau d'électrons. De plus, les capacités de métrologie souterraine sont activées par Chemical Milling, où les sections traitées sont inspectées microscopiquement pour détecter les défauts potentiels. L'actif AFS 3220 dispose également de plusieurs fonctionnalités avancées pour permettre des tests et des analyses efficaces. Cela comprend un modèle d'examen des défauts en ligne, qui permet d'examiner les défauts potentiels rapidement et efficacement. La classification et la détection automatisées des défauts réduisent au minimum le temps consacré par le personnel à l'inspection manuelle de routine. De plus, un équipement de reconnaissance de matrice est capable de reconnaître visuellement des motifs de matrice. En conclusion, le système d'essai et de métrologie TENCOR AFS 3220 est une solution fiable et efficace pour les essais de semi-conducteurs. Cette unité combine une technologie d'imagerie et de métrologie de pointe avec des fonctionnalités avancées, y compris la défocalisation codée en phase, la numérisation à haute vitesse des obturateurs et la révision en ligne des défauts. En outre, ADE/KLA/TENCOR AFS 3220 dispose d'une gamme de travail configurable pour accueillir différents types de plaquettes et tailles. ADE AFS 3220 est un outil essentiel pour les fabricants de semi-conducteurs, fournissant des capacités efficaces et fiables d'essai de plaquettes et de métrologie. La combinaison des caractéristiques de cette machine en fait un outil fiable pour le test et l'analyse de haute précision des plaquettes et autres dispositifs semi-conducteurs.