Occasion ADE / KLA / TENCOR AFS 3220 #9055341 à vendre en France

ADE / KLA / TENCOR AFS 3220
ID: 9055341
Wafer surface measurement system.
ADE/KLA/TENCOR AFS 3220 wafer testing and metrology equipment est un ensemble complet d'outils utilisés pour l'état actuel du traitement des semi-conducteurs. Il est conçu avec un système de détection très efficace et précis pour détecter les défauts des plaquettes, réduire les coûts et augmenter les rendements. L'unité AFS 3220 de l'ADE contient plusieurs composants tels qu'une machine avancée d'examen des défauts, un outil automatisé de caractérisation des surfaces, un atout automatisé de reconnaissance des foyers, ainsi que plusieurs systèmes de contrôle automatisé pour mesurer les paramètres clés. Le modèle avancé de révision des défauts utilise de nombreuses caméras pour détecter et analyser les défauts à la surface des plaquettes d'essai. Il est capable d'identifier pratiquement tous les défauts possibles, allant de mineurs à majeurs tels que les rayures, les particules, la contamination, les caractéristiques mal imprimées, les écarts d'alignement, les structures de répétition incomplètes et d'autres questions liées au processus. Il fournit également une analyse détaillée de la gravité du défaut ainsi que de son emplacement sur la plaquette. L'équipement automatisé de caractérisation de la surface est utilisé pour mesurer les paramètres critiques de la surface de la plaquette tels que la rugosité de la surface, la planéité, l'homogénéité, l'adhérence et les dommages à la surface. Ce système est capable de mesurer et de fournir des valeurs précises pour différents paramètres liés aux propriétés électriques, mécaniques et chimiques de la plaquette. L'unité automatisée de reconnaissance de la focale ajuste automatiquement la focale de la plaquette afin d'assurer des mesures précises. Il est également capable de fournir une rétroaction en temps réel, permettant à la machine de suivre les étapes de fabrication des semi-conducteurs qui évoluent rapidement. En plus de ces composants, l'outil AFS 3220 KLA dispose également de plusieurs systèmes de contrôle automatisé pour mesurer divers paramètres tels que la température, l'humidité et la pression. Ces systèmes de contrôle permettent à l'exploitant de maintenir un environnement sûr et cohérent pour le traitement. TENCOR AFS 3220 actif est un modèle extrêmement polyvalent qui est conçu pour détecter et analyser une variété de défauts et de propriétés sur la surface de la plaquette. Il peut être utilisé pour de nombreuses applications telles que l'inspection des défauts, le contrôle des processus et l'amélioration des rendements. Ses composants automatisés assurent une détection et une analyse précises, efficaces et rapides des défauts, ce qui augmente les rendements et diminue les coûts.
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