Occasion ADE / KLA / TENCOR Microsense 6033 #9269080 à vendre en France

ADE/KLA/TENCOR Microsense 6033 wafer testing and metrology equipment est un instrument précis utilisé pour l'évaluation non destructive des wafers semi-conducteurs. Il utilise une technologie de balayage optique précise pour fournir des mesures précises de l'épaisseur des plaquettes, de la topographie, de la surface, de la composition des matériaux et de l'indice de réfraction. Le système est capable de mesurer plus d'une douzaine de paramètres critiques, y compris l'épaisseur moyenne du film, l'écart type, la répétabilité des couches, la vitesse du film, la planéité et la rugosité. ADE Microsense 6033 dispose d'une source d'éclairage puissante et de faible puissance pour des essais et une métrologie cohérents et à haute résolution. Cette source lumineuse projette des micro-faisceaux de lumière laser à travers la plaquette d'échantillon dans un motif afin de mesurer avec précision chaque point à l'intérieur du motif. Ce modèle unique permet d'assurer la répétabilité et l'uniformité des résultats des tests. De plus, l'unité dispose d'un niveleur avancé qui mesure précisément la courbure, l'épaisseur et les anomalies de rugosité des échantillons sur toute la surface. Cette fonction garantit des mesures précises et précises pendant le processus d'évaluation. KLA Microsense 6033 dispose également d'une machine intégrée d'optique, d'électronique et de logiciels. Cela comprend une caméra CCD intégrée, l'acquisition d'images numériques et les capacités de traitement du signal, qui se traduisent par des tests et des mesures rapides et précis des plaquettes non destructives. L'outil fournit aux utilisateurs une gamme complète d'outils d'analyse de données, y compris l'affichage graphique bidimensionnel, les histogrammes et les ensembles de données tabulaires. Cet atout a de nombreuses applications pratiques dans les industries des semi-conducteurs. Il peut être utilisé pour l'inspection rapide des plaquettes, la cartographie des dopants, l'inspection du profil des marqueurs, l'analyse rapide des défaillances, l'audit des processus et la caractérisation des plaquettes. Microsense 6033 est fortement recommandé pour sa facilité d'utilisation, ses caractéristiques avancées et ses mesures de haute précision. Sa vaste gamme de capacités de contrôle opto-électronique et d'imagerie offre aux utilisateurs les outils nécessaires pour identifier et résoudre avec confiance les problèmes critiques. Le modèle s'est avéré être un outil précieux parmi de nombreux SEM de premier plan de l'industrie, les fabricants de plaquettes et les professionnels de l'essai.