Occasion ADE / KLA / TENCOR Microsense 6033 #9281712 à vendre en France

ADE/KLA/TENCOR Microsense 6033 est un équipement avancé d'essai de plaquettes et de métrologie conçu pour fournir une analyse de précision des bords coupés des plaquettes, des épaisseurs de laminage après gravure et des épaisseurs de revêtement. Le système comprend une gamme de fonctionnalités innovantes qui permettent des tests précis sur une large gamme de tailles d'échantillons. L'ADE Microsense 6033 est équipé d'un étage asservi à trois axes et d'une unité de métrologie optique de haute précision. L'unité de métrologie combine un interféromètre à lumière blanche, un ellipsomètre et un polarizomètre pour fournir des mesures à la fois absolues et relatives de l'épaisseur de l'échantillon et de l'épaisseur de la couche. L'unité dispose également d'une bibliothèque de processus Wafer pour faciliter la répétabilité et la traçabilité des mesures. L'étage asservi permet un large éventail de tests automatisés tels que la mesure des bords coupés des plaquettes, des épaisseurs de laminage post-gravure et des épaisseurs de revêtement. La machine supporte également des tests automatisés avancés tels que l'épaisseur du placage, la résistance à l'adhérence, la planarité, le laminage et la texture de surface. KLA Microsense 6033 est capable de mesurer des plaquettes aussi petites que 100um et aussi grandes que 200mm avec le plus haut degré de précision. Les autres fonctionnalités comprennent le balayage pièce par pièce ou par lot, la collecte de données et l'analyse de données via les interfaces USB, GPIB et RS-232. L'outil est également capable de produire une représentation graphique de mesures telles que les cartes RCP et les cartes de répétabilité et de reproductibilité de Gage (GR&R). TENCOR Microsense 6033 est conçu pour répondre aux exigences les plus strictes de l'industrie des semi-conducteurs en termes de précision, de vitesse et de fiabilité. L'actif est également personnalisable pour les besoins spécifiques des applications individuelles. Le modèle peut également être intégré à une variété d'autres produits ADE tels que le Wafer Verifier-32 et Wafer Verifier Pro. Microsense 6033 est un outil intuitif et puissant pour mesurer les paramètres critiques de métrologie des wafers semi-conducteurs modernes. Ses fonctionnalités avancées et ses tests automatisés en font un équipement idéal pour la production, le développement de processus, le contrôle de qualité et les laboratoires de recherche. Pour les tâches les plus exigeantes, ADE/KLA/TENCOR Microsense 6033 est la solution parfaite pour obtenir des mesures précises avec une excellente répétabilité.