Occasion ADE / KLA / TENCOR Microsense 6033 #9301382 à vendre en France

ID: 9301382
Wafer measurement system.
ADE/KLA/TENCOR Microsense 6033 est un système complet de caractérisation des matériaux et de solutions de métrologie automatisées dans la technologie avancée des plaquettes. Le système se compose d'un scanner à interférométrie laser, d'une unité de traitement et d'une série d'accessoires supplémentaires pour le contrôle et la mesure des paramètres pour le test des plaquettes. Le scanner interférométrique laser est spécifiquement conçu pour fournir des mesures de haute précision avec ses capteurs de lumière à haute résolution brevetés. Il peut rapidement analyser une variété de données topographiques, y compris les hauteurs des marches, la rugosité de la surface et la planéité. L'unité de traitement contient deux capteurs d'image haute résolution, deux unités de traitement numérique du signal (DSP) et deux processeurs arithmétiques indépendants 16 bits pour le traitement amélioré des données. Il dispose également d'un processeur d'image numérique à quatre canaux pour l'analyse d'image en temps réel, et d'une capacité de stockage de mémoire pouvant atteindre 32 Go. Les accessoires supplémentaires comprennent une tête de télescope multi-étages pour un réglage facile de la hauteur, un écran LCD couleur haute résolution pour la visualisation des données, et une capacité de transfert de données à grande vitesse pour l'acquisition rapide de données. Pour assurer l'exactitude et la répétabilité, le système utilise un algorithme multi-pass (MPA) breveté dans son logiciel de collecte automatisée de données. La MPA compile les données de multiples passes en un seul balayage pour assurer la plus grande précision. La vitesse de balayage optimisée assure une analyse rapide sans compromettre la qualité des données. De plus, l'unité est conçue avec un certain nombre de caractéristiques pour protéger l'échantillon à l'essai, comme des pieds de montage antivibratoires et une chambre de poussière spéciale pour réduire l'effet de la poussière sur les données. ADE Microsense 6033 a une gamme d'applications, allant de la caractérisation des plaquettes semi-conductrices à la mesure de la contamination de surface de toute surface complexe. Il peut également être utilisé pour mesurer l'épaisseur des couches diélectriques, gazeuses et liquides sur des substrats. Avec sa grande précision, sa vitesse de balayage rapide et ses fonctionnalités avancées, KLA Microsense 6033 est idéal pour les tests de métrologie et s'est avéré être l'un des systèmes de test et de métrologie de plaquettes les plus fiables.
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