Occasion ADE / KLA / TENCOR Microsense 6033T #9272589 à vendre en France

ADE / KLA / TENCOR Microsense 6033T
ID: 9272589
Wafer thickness gauge.
L'équipement Microsense 6033T ADE/KLA/TENCOR est un système de test et de métrologie des plaquettes de pointe conçu pour les performances ultimes. Cette unité combine les solutions intégrées des plates-formes logicielles ADE Acuity et KLA WaferMapper, ce qui permet une plus grande vitesse et agilité dans les essais de plaquettes et des résultats complets de métrologie. ADE Microsense 6033T comprend un détecteur de rayons X avancé capable de capturer des images jusqu'à 4K en résolution dans un délai extrêmement court. Cette machine dispose d'un temps d'exposition variable et d'un réglage dynamique, permettant une imagerie rapide et précise et une manipulation d'image précise. Même en présence d'un rayonnement de fond élevé, le détecteur de rayons X de KLA Microsense 6033T peut atteindre une plage dynamique allant jusqu'à 5000:1, permettant la saisie de détails précis même dans les environnements de test les plus difficiles. L'outil est alimenté par le logiciel TENCOR WaferMapper, permettant la détection et la mesure automatisées des caractéristiques de surface, du nombre de particules, de la fraction vide et d'autres paramètres de la plaquette. Ce logiciel est équipé d'une série d'outils d'analyse avancés pour une analyse rapide et fiable, permettant aux utilisateurs d'identifier rapidement les défauts potentiels et d'autres problèmes lors des essais et de la métrologie. ADE intégré / KLA / l'actif d'Acuité de TENCOR detectorADE WaferMapper est capable d'exécuter la cartographie de gaufrette détaillée et mourez en évaluant vite et exactement. Ce modèle permet une couverture complète de l'ensemble de la plaquette tout en fournissant une analyse très détaillée de la mort individuelle. Il peut être utilisé pour effectuer un large éventail de tests de wafer, y compris la cartographie spectrale rapide, la cartographie des rayons X, la cartographie topologique, la rugosité de surface et la détection de fonctionnalités. L'équipement TENCOR Microsense 6033T est conçu pour répondre aux exigences exigeantes des applications actuelles d'essai de plaquettes et de métrologie. Avec ses capacités d'imagerie robustes et ses outils d'analyse complets, c'est une solution idéale pour des tests et une métrologie rapides et fiables.
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