Occasion ADE / KLA / TENCOR MicroXAM #9181335 à vendre en France

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ID: 9181335
Optical profilometer.
ADE/KLA/TENCOR MicroXAM est un équipement complet d'essai de plaquettes et de métrologie conçu pour relever les défis de plus en plus complexes de la métrologie et de l'inspection des défauts. Le système combine l'optique de pointe, l'automatisation et les algorithmes de traitement d'image pour fournir des mesures d'épaisseur précises et non destructives et la détection des défauts. Cette unité tout-en-un permet également un débit, une flexibilité et une évolutivité extrêmement élevés, offrant un accès très rapide aux données ainsi qu'une analyse et un reporting détaillés. Les caractéristiques essentielles d'ADE MicroXAM sont les suivantes : Cartographie automatisée des plaquettes - la machine utilise des scanners avancés pour cartographier avec précision la topographie et les contours de défaut de chaque plaquette. Imagerie haute résolution - le sous-système d'imagerie supporte une grande variété de configurations optiques pour la résolution, un grand champ de vision et des performances de détection optimales. Des stratégies optimisées à haut débit permettent à l'outil de fournir des tests de qualité des plaquettes à haut débit. Inspection des défauts - KLA MicroXAM peut détecter des défauts tels que la contamination des particules, la propagation des fissures et les décolorations du coin, avec une précision exceptionnellement élevée. Mesure simultanée des plaquettes - l'actif est capable de mesurer automatiquement plusieurs plaquettes à la fois. Évolutivité - le modèle peut être mis à l'échelle afin d'augmenter les vitesses et le débit des tests automatisés. Manutention flexible des plaquettes - TENCOR MicroXAM offre plusieurs mécanismes de manutention des plaquettes, y compris des convoyeurs et des cassettes tournantes, qui permettent un chargement et un déchargement rapides et fiables des plaquettes. Accès rapide aux données - les données peuvent être transférées à d'autres systèmes d'analyse et de rapport en quelques secondes. Capacités de rapport supérieures - des outils de rapport puissants permettent une surveillance et un contrôle détaillés des rendements des processus et des opérations de mesure réelles. MicroXAM est idéal pour répondre efficacement aux besoins uniques des appareils nodaux avancés et des applications plus traditionnelles SiGe, semi-conducteurs composés et MEMS. Cet équipement puissant est hautement fiable et personnalisable, et lorsqu'il est combiné avec des processus de fabrication automatisés, fournit des données précises et reproductibles pour améliorer la compréhension, la surveillance et le contrôle des processus.
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