Occasion ADE / KLA / TENCOR UltraScan 9800 #9397208 à vendre en France

ADE/KLA/TENCOR UltraScan 9800 est un équipement d'essai et de métrologie de wafer de pointe, capable d'acquérir des informations de niveau wafer qui sont essentielles pour des processus de fabrication efficaces. Ce système est idéal pour les tests électriques automatisés, l'imagerie et les applications de métrologie micro/nanométrique. L'UltraScan 9800 de l'ADE peut représenter des puces à des résolutions impressionnantes allant jusqu'à 0,05 µm et acquérir des caractéristiques électriques détaillées, telles que la résistance, la capacité et le courant de fuite, à des vitesses élevées. Cette capacité combinée est inestimable pour les environnements de production et de développement, avec des vitesses d'imagerie allant jusqu'à 25kHz pour des taches individuelles. Unique en son genre, le KLA UltraScan 9800 peut détecter de minuscules défauts et obstructions avec une résolution en hauteur de 0,2nm, ce qui le rend avantageux dans l'industrie des semi-conducteurs. UltraScan 9800 peut également mesurer des substrats semi-conducteurs jusqu'à 200 mm de diamètre, avec une répétabilité et une précision supérieures à ± 0,02 µm. Son unité de vision automatisée assure une localisation rapide et précise des centres de die et de chaque puce, avec la capacité de gérer différentes zones d'imagerie et résolutions pour différents endroits. La caractéristique la plus impressionnante de TENCOR UltraScan 9800 est sa capacité de compensation de la vision. Cette machine peut effectuer un large éventail d'opérations basées sur la vision, telles que la cartographie, la superposition et la correction d'imagerie. En utilisant des systèmes de contrôle de rétroaction avancés, le module de compensation de la vision de l'UltraScan 9800 d'ADE/KLA/TENCOR peut automatiquement maintenir un alignement et une position désirés d'une plaquette dans des conditions d'imagerie. De plus, il peut également détecter, inspecter et cartographier des défauts aussi petits que 0,1 µm sur une large gamme de substrats de plaquettes. En termes de sécurité, l'ADE UltraScan 9800 est conforme aux normes européennes, américaines et japonaises et est livré avec un panneau d'interface convivial. Toutes les opérations sont sans lubrification et conformes aux règlements de la FDA, RoHS et CSA. De plus, l'outil peut être intégré au logiciel existant du client avec des kits API, ce qui le rend encore plus pratique à utiliser. Pour conclure, KLA UltraScan 9800 est une solution idéale pour des applications de test et de métrologie de plaquettes précises et fiables. Grâce à ses capacités d'imagerie et de métrologie à grande vitesse, cet atout est conçu pour fournir des résultats fiables dans les environnements de production et de recherche. Ce modèle est conforme à diverses réglementations de sécurité et compatible avec les logiciels existants, ce qui en fait un choix parfait pour l'industrie des semi-conducteurs.