Occasion ADE / KLA / TENCOR WaferSight PWG2 #9283347 à vendre en France

ADE/KLA/TENCOR WaferSight PWG2 est un équipement d'essai et de métrologie automatisé de pointe conçu pour maximiser le rendement et réduire les coûts. C'est un système puissant pour l'imagerie, la mesure et les solutions de détection de défauts, permettant des résultats rapides et précis avec un minimum de travail manuel. L'unité automatisée de test et de métrologie des plaquettes se compose d'un microscope optique et d'une machine d'acquisition d'images pour recueillir des images optiques des plaquettes et de leurs structures, ainsi que d'un outil de métrologie laser pour des mesures dimensionnelles rapides. Le microscope comprend une variété de lentilles objectives pour capturer les caractéristiques de surface de la plaquette, y compris les grains, les défauts et d'autres caractéristiques topographiques. L'actif d'acquisition d'images est composé de deux capteurs laser et de deux puces sensibles à la lumière, qui mesurent les étendues de réflectance optique pour l'acquisition de données précises. Le modèle comprend également un processeur réseau neuronal de reconnaissance de motifs de haut niveau, qui inspecte automatiquement les wafers pour détecter les défauts, à l'aide d'une cascade d'algorithmes. Le processeur réseau de neurones est capable d'identifier avec précision un large éventail de tailles et d'emplacements de défauts. Il est également capable de fournir une base de données d'inspection exhaustive pour chaque plaquette, qui peut être utilisée pour évaluer les rendements des produits. L'équipement de métrologie laser d'ADE WaferSight PWG2 couvre également une large gamme de dimensions critiques, avec des niveaux de résolution deux fois supérieurs à ceux des microscopes à lumière traditionnels. Il est également capable de mesurer les dimensions exactes de structures difficiles à lire telles que les bords de fonctionnalités sous-pixel, via une fonction « réplicateur numérique », qui mesure avec précision ces caractéristiques avec une précision sous-micron. Le système automatisé est extrêmement fiable, avec un temps de disponibilité allant jusqu'à 99,7 %, assurant des résultats cohérents dans le cadre de sa robustesse globale. Il est également extrêmement facile à utiliser, nécessitant une intervention manuelle minimale pour la mise en place, le fonctionnement et la surveillance. Le logiciel fournit une interface graphique facile à utiliser pour mettre en place des expériences, visualiser les résultats d'imagerie et de métrologie, et exporter les données pour une analyse plus approfondie. En conclusion, KLA WaferSight PWG2 est une unité de test et de métrologie automatisée puissante et fiable, conçue pour automatiser les processus courants d'acquisition et de mesure d'images. Sa précision extraordinaire, combinée à son travail manuel peu coûteux et minimal, font de cette machine une solution idéale pour des essais et une métrologie rentables.