Occasion AEP TECHNOLOGY Nanomap 8018 lite #293662145 à vendre en France

AEP TECHNOLOGY Nanomap 8018 lite est un équipement d'essai et de métrologie de plaquettes conçu pour la détection de défauts à grande vitesse et la métrologie de surface en temps réel. Ce système fournit une précision, une précision et une vitesse inégalées, permettant aux utilisateurs de détecter et de diagnostiquer rapidement les défauts de leurs plaquettes en toute confiance. Nanomap 8018 lite dispose d'une unité de balayage d'opération xenetech de haute précision qui fournit une carte 3D haute résolution de la surface de la plaquette avec une résolution allant jusqu'à 8µm. Sa grande capacité de débit et son débit d'acquisition rapide de données permettent aux utilisateurs de numériser et de mesurer plusieurs plaquettes en quelques minutes. La machine intègre une variété de méthodes d'essai telles que le champ noir, le champ lumineux et l'analyse électronique rétrodiffusée pour assurer une analyse complète des défauts de la plaquette. En plus de la carte 3D haute résolution de la plaquette, l'outil fournit également des algorithmes complets de détection des défauts pour identifier les défauts tels que les petites rayures, la contamination, le collage des puces, et plus encore. L'algorithme utilise des modèles d'apprentissage automatique pour identifier divers types de défauts difficiles à détecter visuellement. Cela permet d'améliorer la précision des résultats et de réduire le temps nécessaire pour diagnostiquer la nature de la faute. En outre, AEP TECHNOLOGY Nanomap 8018 lite dispose d'un algorithme avancé de détection des défauts qui peut identifier les défauts critiques et non critiques qui peuvent ne pas être visibles en un coup d'œil. Cet algorithme est capable de fournir des détails supplémentaires sur chaque défaut détecté tels que la taille, l'emplacement et le matériau du défaut. Cela permet de s'assurer que tous les défauts potentiels sont identifiés et évalués pour évaluer l'impact sur la performance globale des plaquettes. L'actif est également conçu pour s'intégrer facilement avec d'autres équipements et processus dans une salle blanche tels que le refroidissement des échantillons, le contrôle de la température et de la pression, ou des processus de nettoyage automatisés. Cela permet aux utilisateurs de saisir rapidement les aperçus de leurs plaquettes, de vérifier les défauts et de diagnostiquer leurs problèmes en quelques minutes, assurant ainsi un processus de fabrication plus rapide et plus efficace. Nanomap 8018 lite est la solution idéale pour les clients qui recherchent la vitesse, la précision et la précision dans leurs processus de test de plaquettes et de métrologie. Grâce à sa carte 3D haute résolution de la surface de la plaquette, à des algorithmes avancés de détection des défauts et à une intégration facile avec d'autres équipements et processus, ce modèle aide les utilisateurs à réduire leur temps de diagnostic des défauts, améliorant ainsi leur qualité et leurs performances.