Occasion AGILENT / HP / HEWLETT-PACKARD / KEYSIGHT 4280A #9044708 à vendre en France

AGILENT / HP / HEWLETT-PACKARD / KEYSIGHT 4280A
ID: 9044708
C Meter / C-V Plotter, 1MHz.
AGILENT/HP/HEWLETT-PACKARD/KEYSIGHT 4280A est un équipement d'essai et de métrologie de plaquettes conçu pour des applications de contrôle de processus à semi-conducteurs. Il est capable de mesurer et de tester un large éventail de caractéristiques de surface, telles que la planéité, la rugosité, la texture de surface, la profondeur de gravure, la densité de défauts, et plus encore. Ce système permet également de déterminer la qualité des plaquettes par rapport aux propriétés électriques, optiques et mécaniques. HP 4280A intègre des optiques et des algorithmes avancés pour créer des images de haute qualité des surfaces semi-conductrices. Il utilise un microscope d'imagerie breveté, ainsi qu'une caméra spécialisée qui capture des mesures tridimensionnelles et des résultats précis. L'unité a une conception modulaire, permettant d'échanger différents composants pour personnaliser la machine selon les besoins de l'utilisateur. AGILENT 4280A dispose d'un logiciel de pointe qui permet une analyse sophistiquée des surfaces des plaquettes. Le logiciel permet aux utilisateurs de zoomer et de tourner pour examiner des images détaillées, ainsi que d'effectuer un certain nombre de tests et de mesures différents tels que la planéité, la circularité et l'uniformité. En outre, il fournit des fonctionnalités telles que la reconnaissance des motifs et l'optimisation des processus, ce qui le rend idéal pour le contrôle des processus. Cet outil est compatible avec une large gamme de substrats et de matériaux, permettant une variété d'applications pour l'industrie des semi-conducteurs. KEYSIGHT 4280A est conçu pour être une solution facile à utiliser, tout-en-un, à la fois fiable et précise. Sa construction robuste et son interface conviviale en font un outil efficace dans le processus de fabrication. Dans l'ensemble, HEWLETT-PACKARD 4280A est un puissant outil de test de wafer et de métrologie qui convient aux applications de contrôle de processus. Il dispose d'une optique avancée et d'algorithmes d'imagerie qui sont combinés avec des logiciels sophistiqués pour permettre une analyse complète des surfaces des plaquettes. Ce modèle est conçu avec une approche modulaire pour donner des résultats personnalisables, ainsi que la compatibilité avec une variété de substrats et de matériaux. 4280A est l'outil parfait pour les applications de contrôle des processus semi-conducteurs.
Il n'y a pas encore de critiques