Occasion AGILENT / HP / HEWLETT-PACKARD / KEYSIGHT 4280A #9230389 à vendre en France

AGILENT/HP/HEWLETT-PACKARD/KEYSIGHT 4280A wafer testing and metrology equipment is designed with applications for wafer level testing on semiconductor devices. Il est conçu pour supporter à la fois la lumière et le vide d'une vaste gamme de différents types de plaquettes de silicium. HP 4280A permet un balayage rapide des plaquettes, permettant aux opérateurs de visualiser rapidement et avec précision la qualité d'une plaquette donnée. Le système dispose également d'une multitude de capacités de métrologie, telles que l'inspection visuelle, la microscopie électronique à balayage (SEM), la microscopie à force atomique (AFM), le profilage et la diffraction des rayons X pour la mesure et l'analyse détaillées des micro-structures d'une plaquette donnée. AGILENT 4280A dispose d'un module d'étage équipé d'une commande à 5 axes pour un alignement précis et précis de la plaquette. L'étage permet de traverser la surface de la plaquette dans une direction latérale ou verticale en mode entièrement automatisé. L'étage peut également tourner, basculer et décaler la plaquette, ce qui permet un réglage facile du plan focal pour différents objectifs de microscope. L'automatisation de ces mouvements permet des tests rapides et précis entre plaquettes, éliminant l'erreur humaine lors des tests. HEWLETT-PACKARD 4280A offre une gamme complète de capacités d'imagerie et de métrologie, permettant aux utilisateurs d'obtenir un haut niveau de compréhension des propriétés et de la micro-structure d'une plaquette donnée. L'unité de profilage intégrée permet une analyse à l'échelle nanométrique approfondie de la plaquette. La machine est livrée avec une gamme de microscopes haute résolution, permettant une inspection détaillée de la surface de la plaquette, ainsi que des caractéristiques telles que SEM, AFM, et la diffraction des rayons X pour une analyse plus détaillée de la plaquette. KEYSIGHT 4280A offre également une gamme de capacités de test. Il est capable de mesurer des signaux tels que la tension, le courant et la fréquence, ainsi qu'un large spectre de caractéristiques électriques, telles que le courant de fuite, les paramètres de commutation et l'uniformité canal-canal des dispositifs. Cet outil possède également un atout en cycle thermique, permettant de tester avec précision la température des plaquettes sur une gamme de températures. 4280A modèle d'essai et de métrologie des plaquettes est conçu pour fournir des capacités d'essai et de métrologie rapides et précises pour les applications avancées des plaquettes. Il dispose d'une commande à 5 axes pour un alignement précis de la plaquette, permettant des essais uniformes. Cet équipement est équipé d'une gamme complète de capacités d'inspection et de métrologie, permettant une analyse nanométrique approfondie de la plaquette. AGILENT/HP/HEWLETT-PACKARD/KEYSIGHT 4280A offre également une gamme de capacités de test de signal, ainsi qu'un système de cycle thermique pour des tests de température précis des plaquettes. C'est un outil puissant et précis pour le développement éclairé de plaquettes.