Occasion AGILENT / HP / HEWLETT-PACKARD / KEYSIGHT 4280A #9375783 à vendre en France

AGILENT/HP/HEWLETT-PACKARD/KEYSIGHT 4280A Wafer Testing and Metrology Equipment est un instrument sophistiqué de test et de métrologie haute performance destiné à la fabrication de plaquettes semi-conductrices. Il est conçu pour mesurer la caractérisation physique, électrique et électrique des plaquettes de silicium avec précision, précision et vitesse. Le système offre une gamme complète de fonctions de mesure telles que le profilage de dopage, la caractérisation électrique, les tests paramétriques et de défauts, l'analyse de la rugosité de surface, les tests d'oxydation, les tests photorésistants, les tests d'humidité et l'inspection des défauts. L'unité comprend une unité de balayage rapide, d'imagerie à grande surface et de métrologie pour l'imagerie directe de la topographie des wafers et des caractéristiques de surface. L'ensemble d'outils de métrologie fournit des mesures dimensionnelles détaillées pour l'épaisseur de l'oxyde, la précipitation dopante et la topographie de surface. L'ensemble d'outils de test électrique fournit des performances électriques rapides et précises et des capacités de test paramétriques électriques pour les plaquettes semi-conductrices. La machine comprend également un ensemble d'outils de test paramétrique de microélectronique pour mesurer les performances individuelles des puces. HP 4280A Wafer Testing and Metrology Tool est conçu pour fournir une précision et une précision maximales dans les essais et la caractérisation des wafers semi-conducteurs. Il dispose de fonctions logicielles avancées et d'interfaces utilisateur pour faciliter l'identification, la mesure et la simulation de caractéristiques électriques et physiques complexes. L'actif est également équipé d'une chambre environnementale intégrée, permettant de tester la température des caractéristiques des plaquettes. Cette chambre peut également être utilisée pour simuler des conditions d'essai dans des laboratoires de R&D ou dans des environnements de production. Le modèle intègre également la microscopie vidéo de pointe, pour la mesure de profondeur des défauts et des défauts sur les plaquettes. Cela permet de mesurer avec précision la profondeur du défaut sans avoir à toucher physiquement les plaquettes, minimisant ainsi le risque de contamination ou d'endommagement de la plaquette. AGILENT 4280A Wafer Testing and Metrology Equipment est un appareil polyvalent et facile à utiliser pour ceux qui ont besoin d'une métrologie et de données d'essai très précises et détaillées. Il offre un environnement convivial, un débit rapide, une métrologie complète et une caractérisation paramétrique électrique. Avec son large éventail de caractéristiques et d'options, il est un excellent choix pour toute installation de fabrication de semi-conducteurs.