Occasion AGILENT / HP / HEWLETT-PACKARD / KEYSIGHT E3160-66522 #191012 à vendre en France

AGILENT/HP/HEWLETT-PACKARD/KEYSIGHT E3160-66522 wafer testing and metrology system est conçu pour fournir des mesures rapides, très précises et fiables des wafers pendant les essais et les processus de production pour les semi-conducteurs et d'autres industries. Il dispose d'un microscope optique intégré, d'un balayage CCD (appareil à couplage de charge) et d'une interface utilisateur conviviale unique qui facilite le fonctionnement de HP E3160-66522. Le microscope comporte un étage motorisé qui facilite le positionnement automatique des plaquettes pour diverses conditions de test. Cela permet un débit maximum, des mesures rapides et la collecte de données. Un scanner CCD est intégré au microscope permettant un haut débit et un faible bruit lors de la capture des données d'une variété de caractéristiques de surface de la plaquette. De plus, le scanner CCD dispose de plusieurs options d'imagerie intégrées qui offrent une répétabilité, une précision et une résolution supérieures. L'interface utilisateur fournit une interface simple point-and-click permettant aux opérateurs de comprendre rapidement et facilement les fonctionnalités et les capacités du système. De plus, l'affichage convivial permet de fournir rapidement à l'utilisateur les informations les plus récentes sur les paramètres et les résultats du test. AGILENT E3160-66522 fonctionne grâce à l'utilisation de deux contrôleurs externes clés - une carte mère CPU et une carte d'entrée/sortie. La carte CPU comprend la mémoire, le processeur et les cartes d'entrée/sortie externes. Le processeur de la carte mère fournit un processeur 32 bits puissant et est capable d'exécuter des algorithmes de test sophistiqués. Entre-temps, la carte E/S est conçue pour répondre aux besoins de la métrologie haut de gamme, offrant la flexibilité nécessaire pour se connecter et interagir avec une variété de capteurs et de contrôleurs. Dans l'ensemble, E3160-66522 système fournit des mesures rapides, précises et fiables des plaquettes dans différents environnements de test et de production tout en offrant une interface conviviale. Il s'agit d'une solution idéale pour les besoins d'essais de plaquettes et de métrologie.