Occasion ALESSI / CASCADE CPS-7089-17 #9293187 à vendre en France

ALESSI/CASCADE CPS-7089-17 est un équipement d'essai de plaquettes et de métrologie basé sur une plate-forme de cartographie optique et de plaquettes combinées. Sa conception optomécanique permet une mesure de haute précision pour une variété d'applications de test de plaquettes et de métrologie. Ses fonctionnalités avancées, telles que le centrage automatique des plaquettes, soutiennent les tests automatisés des appareils sous-microns d'aujourd'hui. Le système comprend divers composants optiques, y compris des objectifs de microscope, des capteurs et des lentilles. Tous les éléments optiques sont conçus pour fournir un ajustement optimal, permettant l'avancement de la technologie d'imagerie requise pour les applications actuelles d'essai de plaquettes et de métrologie. La conception optomécanique d'ALESSI CPS-7089-17 permet un alignement précis sur l'ensemble du champ de vision, garantissant la plus grande précision des mesures d'essai et de métrologie. CASCADE CPS-7089-17 est équipé d'un étage motorisé, permettant un positionnement facile et précis des plaquettes. Ceci est avantageux pour les essais à haut débit et les opérations de métrologie. L'étage motorisé permet également de scanner des plaquettes de n'importe quelle taille. Pour s'assurer que toutes les mesures sont exactes dans l'ensemble du champ de vision, CPS-7089-17 comprend une variété de fonctionnalités, telles que la mise au point automatique, l'exposition automatique et les algorithmes avancés de reconnaissance des motifs. La fonction de focalisation automatique utilise une fonction de focalisation automatique, permettant aux utilisateurs d'obtenir rapidement le point de focalisation souhaité, éliminant le besoin de réglage manuel. L'exposition automatisée permet des mesures précises quelle que soit la conception de l'appareil, offrant un processus de test plus efficace. ALESSI/CASCADE CPS-7089-17 dispose également d'un logiciel SPCi, développé par ALESSI, qui fournit des capacités de test de wafer et d'analyse de données de métrologie. Cela inclut des mesures de haute précision telles que des mesures de dépassement/sous-relevé et de surface totale. Le logiciel permet une configuration et un étalonnage faciles de l'unité et est également capable d'une analyse statistique avancée des données de test de wafer et de métrologie. ALESSI CPS-7089-17 effectue un large éventail de tâches d'essai et de métrologie des plaquettes, y compris des mesures au niveau de la matrice, de la matrice individuelle et de la plaquette. Cette machine est une solution efficace pour les tests automatisés et les exigences de métrologie de haute précision pour les dispositifs de circuits intégrés.