AMAT (Test de Wafer et métrologie) d'occasion à vendre

Applied Materials (AMAT) est un fabricant renommé de matériel d'essai de plaquettes et de métrologie utilisé dans l'industrie des semi-conducteurs. Ces systèmes sont des composants essentiels du processus global de fabrication des semi-conducteurs et jouent un rôle essentiel pour assurer la qualité, la fiabilité et le rendement des circuits intégrés. AMAT propose une gamme d'unités analogiques de test et de métrologie des plaquettes qui exploitent les technologies de pointe pour fournir des résultats précis et efficaces. Ces machines sont équipées de fonctionnalités telles que l'imagerie haute résolution, des outils de mesure de précision et des capacités d'analyse de données, permettant aux fabricants de semi-conducteurs de répondre de façon cohérente à leurs exigences de qualité strictes. Le système Sting II est conçu pour effectuer l'inspection automatisée des défauts, l'examen des défauts et la métrologie des substrats des wafers. Il offre une sensibilité supérieure aux défauts et des capacités de classification, permettant aux fabricants d'identifier et de traiter les défauts potentiels limitant le rendement en temps opportun. Le système Sting II facilite également l'analyse des dimensions critiques et fournit des informations précieuses sur la variabilité des processus, permettant l'optimisation des processus et l'amélioration des rendements. Les avantages des outils d'essai et de métrologie des wafers d'AMAT comprennent leur capacité à fournir une rétroaction précieuse en temps réel sur la qualité des wafers, permettant aux fabricants de prendre des décisions axées sur les données et améliorant le contrôle des processus. Ces modèles aident également à minimiser les coûts associés à la perte de rendement en détectant et en résolvant les défauts au début du processus de fabrication. En outre, les équipements d'AMAT sont hautement personnalisables et évolutifs, assurant la compatibilité avec les différents nœuds de processus et tailles de plaquettes. Dans l'ensemble, les systèmes d'essai et de métrologie des plaquettes AMAT, comme le Sting II, offrent aux fabricants de semi-conducteurs des capacités avancées en matière d'inspection, d'examen et de métrologie des défauts, ce qui permet d'améliorer le rendement, la productivité et le contrôle des procédés.