Occasion AMAT / APPLIED MATERIALS NANOSEM 3D #116929 à vendre en France

AMAT/APPLIED MATERIALS NANOSEM 3D est un équipement avancé d'essai de plaquettes et de métrologie conçu pour des applications de fabrication de semi-conducteurs. Le système offre une gamme complète d'outils de métrologie avancés qui permettent aux ingénieurs d'effectuer des balayages 3D précis et haute résolution d'échantillons de plaquettes. L'unité est conçue pour analyser des détails de structure minuscules sur les plaquettes et mesurer avec précision les aspects structurels critiques, tels que l'épaisseur de la couche et le profil de surface. Cela fait d'AMAT NANOSEM 3D un outil inestimable pour les ingénieurs de procédés semi-conducteurs et électroniques. La machine est équipée d'un microscope optique haute résolution, d'un spectrophotomètre et d'un diffractomètre à rayons X, qui permettent aux ingénieurs de mesurer et de détecter avec précision les différences minuscules dans les structures des plaquettes. Ceci peut être utilisé pour déterminer la composition, l'épaisseur et la précision géométrique des couches de plaquettes. Il fournit également des informations sur le post-traitement et les traitements chimiques, permettant aux ingénieurs de modifier le processus de conception pour optimiser le rendement et les performances. L'outil est capable de balayer rapidement des plaquettes, et ses outils d'imagerie de haute précision fournissent une excellente résolution pour permettre des mesures précises de minuscules caractéristiques. L'actif permet aux ingénieurs d'analyser rapidement plusieurs paramètres d'échantillons à la fois, sans avoir à effectuer des opérations de métrologie complexes. Cela permet aux ingénieurs de développer et d'évaluer rapidement des conceptions de plaquettes, leur permettant d'identifier et de résoudre des problèmes potentiels avant qu'ils ne deviennent des problèmes coûteux. MATÉRIAUX APPLIQUÉS NANOSEM 3D est un outil puissant pour les procédés de fabrication de semi-conducteurs, car il fournit aux ingénieurs les outils d'analyse nécessaires pour assurer la précision et la qualité. Grâce à ses outils de métrologie avancés, le modèle peut numériser et mesurer rapidement les échantillons de plaquettes et détecter les déformations critiques des canaux de fabrication et des processus. Cela en fait un atout inestimable pour tout fabricant de semi-conducteurs, garantissant que les produits répondent aux normes de qualité nécessaires.