Occasion AMAT / APPLIED MATERIALS NANOSEM 3D #9138847 à vendre en France

ID: 9138847
Taille de la plaquette: 8"-12"
Style Vintage: 2002
Critical Dimension Scanning Electron Microscope (CD-SEM), 8"-12" Open cassette 2002 vintage.
AMAT/APPLIED MATERIALS NANOSEM 3D est un équipement d'essai et de métrologie avancé conçu pour l'industrie des semi-conducteurs. Ce système combine les avantages de l'imagerie 3D avec des fonctionnalités dédiées automatisées pour la manipulation des échantillons et la création de mesures de profondeur critique sur les plaquettes et autres substrats. AMAT NANOSEM 3D est capable de mesurer des profondeurs allant de 0,1 μ m à plusieurs millimètres avec une résolution inférieure à 0,01 μ m. Il est également capable de mesurer les contours et la rugosité de la surface. La machine se compose de deux composants principaux, le dispositif d'imagerie 3D et l'outil de manipulation. Le dispositif d'imagerie 3D est basé sur la technologie DIS (Digital Imaging Standard) et est capable d'enregistrer de grands champs d'image tout en offrant une haute résolution spatiale et précision. L'actif est équipé d'un algorithme d'imagerie 3D propriétaire qui permet l'imagerie 3D à grande échelle d'objets de forme, de taille et de morphologie de surface différentes. De plus, sa technologie brevetée de reconnaissance des objets associée à une variété d'options de tête permet au modèle de mesurer sur des cavités ouvertes et une planarité variable. L'équipement de manutention permet le chargement et le positionnement automatiques des échantillons, ainsi qu'une large gamme de mouvements manuels et automatisés de la tête d'imagerie. Le processus automatisé de chargement des échantillons permet un chargement et un positionnement rapides et précis des plaquettes et autres substrats. Il prend également en charge l'imagerie de comparaison automatisée dans les situations où différentes plaquettes doivent être analysées rapidement. En outre, le système donne le contrôle complet à l'opérateur, lui permettant d'ajuster interactivement les paramètres de gain et de focalisation pour améliorer les résultats d'imagerie. Le logiciel de mesure pour les matériaux appliqués NANOSEM 3D est facile à utiliser, permettant un contrôle intuitif du flux de travail et l'analyse des données. Il est capable de créer une représentation 3D puissante de l'échantillon, permettant une identification et une révision rapides des caractéristiques topographiques. De plus, l'analyse des données recueillies peut fournir des informations sur la texture de surface et d'autres dimensions importantes telles que le rayon, la pente et la largeur. En résumé, la machine NANOSEM 3D est un outil avancé de test et de métrologie de plaquettes qui profite de la technologie d'imagerie avancée pour mesurer les profils de profondeur et de surface avec une haute résolution et précision. Il dispose d'un outil de traitement automatisé des échantillons avec un logiciel intuitif pour un contrôle facile du flux de travail et l'analyse des données. Le modèle est idéal pour l'industrie des semi-conducteurs, permettant une imagerie rapide et précise des plaquettes et autres substrats.
Il n'y a pas encore de critiques