Occasion AMAT / APPLIED MATERIALS NANOSEM 3D #9284714 à vendre en France

AMAT/APPLIED MATERIALS NANOSEM Le matériel d'essai et de métrologie des plaquettes 3D est un outil puissant pour améliorer la production des plaquettes et les performances des appareils. Ce système fournit des échantillons précis pour la mesure physique, électrique et thermique. C'est un outil précieux pour les chercheurs de l'industrie qui cherchent à développer de nouveaux matériaux et procédés de production. L'unité AMAT NANOSEM 3D utilise plusieurs technologies différentes pour mesurer et analyser une variété de propriétés des matériaux. Sa technologie avancée d'imagerie microscopique peut mesurer les dimensions des caractéristiques jusqu'à 25nm. Ses capacités intégrées de métrologie peuvent identifier et mesurer les caractéristiques sur les deux surfaces de la plaquette. La machine dispose également d'une gamme de technologies de mesure optique et thermique intégrées. Les capacités complètes de cet outil en métrologie comprennent le balayage optique, le balayage électrique/thermique et la microscopie électronique à balayage. Cet atout a la capacité d'analyser une grande variété de tailles d'échantillons et de matériaux, y compris les plaquettes simples et doubles faces. Ces capacités permettent une caractérisation précise des performances du dispositif. MATÉRIAUX APPLIQUÉS Le modèle NANOSEM 3D est également équipé d'un équipement intelligent de reconnaissance des défauts. Ce système permet de reconnaître et d'identifier avec précision les défauts sur les surfaces des plaquettes. En identifiant ces défauts, les chercheurs peuvent réduire le temps nécessaire pour identifier les zones problématiques de leurs appareils et réduire les pannes de production coûteuses dues aux mauvaises performances des appareils. Cette unité offre également des capacités avancées de contrôle des processus. Il peut observer les conditions du processus et ajuster les paramètres pour fournir des performances optimales du dispositif. Cette machine peut également simuler et prédire les performances du processus de wafer. Cette fonction avancée de contrôle des processus permet de réduire les taux de rejet et d'améliorer la qualité des appareils. L'outil NANOSEM 3D est idéal pour les fabricants d'appareils qui cherchent à développer des matériaux avancés et des processus de production. Ce puissant outil de test et de métrologie est capable de fournir des échantillons précis et des mesures précises. Ses capacités complètes de métrologie et de contrôle des processus assurent une production efficace et fiable des appareils.