Occasion AMAT / APPLIED MATERIALS NANOSEM 3D #9293620 à vendre en France
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ID: 9293620
Taille de la plaquette: 12"
Style Vintage: 2004
Critical Dimension Scanning Electron Microscope (CD-SEM), 12"
2004 vintage.
AMAT/APPLIED MATERIALS NANOSEM 3D est un équipement avancé d'essai et de métrologie de plaquettes qui utilise une combinaison de technologies 2D et 3D pour produire des images détaillées d'imagerie par défaut. Il dispose d'un faisceau d'électrons haute puissance qui peut être utilisé pour créer des images 2D ultra haute résolution avec des épaisseurs jusqu'à un seul nanomètre. Cette résolution sans précédent permet d'identifier et d'analyser plus rapidement que jamais les défauts au niveau des plaquettes. Le système AMAT NANOSEM 3D utilise la capture numérique à haute résolution (DSC) pour capturer de minuscules changements dans le courant électrique des transistors et dispositifs au niveau microscopique. Ceci permet à l'unité de détecter des défauts potentiels qui seraient passés inaperçus dans une image traditionnelle produite par microscopes optiques. En plus de DSC, la machine NANOSEM 3D des matériaux appliqués intègre également la technologie MRC (Metrology Raster Capture) pour produire une image 3D afin de faciliter l'analyse des changements subtils dans la structure des couches diélectriques à la surface du substrat. La technologie MRC utilise des faisceaux laser puissants pour « écrire » un motif à la surface, fournissant un marqueur fiduciaire pour mettre en évidence différents matériaux et défauts. En utilisant les deux technologies d'imagerie 3D, l'outil NANOSEM 3D peut surveiller les mesures en temps réel de la variabilité du produit avec une résolution ultra élevée tout en détectant les motifs anormaux au niveau de l'échelle du nanomètre. Ceci permet d'analyser l'homogénéité du produit à un niveau détaillé, avec une détection rapide et efficace des défauts subtils. L'actif fournit également des visualisations avec la capacité de « basculer » betw een 2D et 3D vues pour identifier les défauts physiques possibles. AMAT/APPLIED MATERIALS Le modèle NANOSEM 3D est conçu pour être facile à utiliser, avec une interface utilisateur conviviale. L'équipement peut être personnalisé selon les préférences des utilisateurs, les pilotes et le post-traitement pour le contrôle complet et l'automatisation de l'analyse des données. Il comprend également un langage de script intégré qui permet aux utilisateurs de créer des scripts personnalisés pour la collecte, l'analyse et le partage de données. Dans l'ensemble, le système AMAT NANOSEM 3D est une solution avancée de test et de métrologie des plaquettes qui combine une imagerie ultra précise et haute résolution avec des outils puissants de métrologie et de détection des défauts. La combinaison de la technologie d'imagerie 2D et 3D, des mesures en temps réel et de l'analyse automatisée créent une unité puissante qui fournit aux utilisateurs une résolution d'image et des capacités de détection de défauts inégalées.
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