Occasion AMAT / APPLIED MATERIALS NANOSEM 3D #9298837 à vendre en France

AMAT/APPLIED MATERIALS NANOSEM 3D est un équipement d'essai et de métrologie de plaquettes qui utilise une combinaison de technologies de pointe pour fournir une cartographie 3D de surface en temps réel de structures et d'appareils individuels sur plaquettes. Le système est équipé d'un microscope optique haute résolution pour l'imagerie nanométrique, d'un laser CW pour la détection des bords et d'un étage de positionnement dynamique en flexion pour un champ de vision étendu. Le logiciel intégré permet l'acquisition et l'analyse automatisées de données sur des régions étendues ainsi que l'imagerie à grande vitesse de structures individuelles. Unité AMAT NANOSEM 3D offre une excellente résolution d'imagerie avec une grande sensibilité, permettant la capture des caractéristiques de surface qui sont difficiles à détecter avec d'autres technologies. Le laser CW permet une détection précise des bords et l'étage de flexion dynamique permet une imagerie étendue du champ de vision et un réglage rapide de l'étage. Les caractéristiques combinées du microscope à haute résolution et de l'étage de flexion dynamique permettent l'imagerie de surface et les mesures sur de petites caractéristiques (sous-microns) à la surface de la plaquette, avec la détection de nombreuses caractéristiques de détails à l'échelle de micron. En plus des capacités d'imagerie, la machine NANOSEM 3D APPLIED MATERIALS supporte également une métrologie de surface robuste. L'environnement intuitif en temps réel fournit un outil efficace pour la gestion des défauts, l'optimisation des processus et l'analyse des défaillances. Grâce à une analyse à haute résolution et à longue portée, l'outil de métrologie de surface peut détecter des informations topologiques et dimensionnelles pour des structures complexes de plaquettes. Cette puissante combinaison de capacités fait de NANOSEM 3D un outil idéal pour une analyse complète des plaquettes. AMAT/APPLIED MATERIALS Le modèle NANOSEM 3D est un équipement complet d'essai de wafer et de métrologie conçu pour répondre aux exigences précises de la fabrication de semi-conducteurs, et est adapté à une utilisation dans la R&D et la production à petite échelle. Le système est compact et nécessite un réglage et un entretien minimaux. Tous les composants de l'unité sont entièrement automatisés et contrôlés via une interface utilisateur graphique (interface graphique), offrant une expérience conviviale et intuitive. La machine est également très fiable avec des fonctionnalités telles que l'étalonnage automatique et la détection d'erreurs.