Occasion AMAT / APPLIED MATERIALS NANOSEM 3D #9353975 à vendre en France

AMAT/APPLIED MATERIALS NANOSEM wafer testing and metrology equipment est un outil très avancé pour la caractérisation, le contrôle des processus et l'analyse avancée des défaillances des dispositifs semi-conducteurs, des nanomatériaux et des matériaux ayant des caractéristiques nanométriques. Le système combine des fonctionnalités logicielles et matérielles innovantes pour faciliter la microscopie 3D ultra haute résolution. Le matériel comprend un microscope électronique à balayage de champ à ultra-haute résolution à faible vide (FE-SEM) avec une fonction monochroma en option, un détecteur d'électrons secondaires à vide élevé (SE), une chambre d'optique d'imagerie rétractable en colonne, une armoire à gaz AVT (Associated Vacuum Technologies) et un injecteur de particules sans mouvement appliqué (MPI). Cette combinaison de matériel permet l'imagerie haute résolution des appareils à des résolutions nanométriques. L'unité AMAT NANOSEM 3D peut atteindre une résolution complète de 1 nanomètre, ou 0,0001mm, permettant une caractérisation extrêmement détaillée des matériaux et des structures. La machine comprend également d'autres logiciels et systèmes utiles pour une multitude de tâches d'analyse et d'imagerie. Un outil de spectroscopie intégré permet la spectroscopie dispersive d'énergie (EDS), qui peut être utilisée pour analyser la composition des matériaux à l'échelle nanométrique. Des technologies de filtrage automatisé et d'amélioration du contraste sont également disponibles, permettant aux utilisateurs d'analyser rapidement et facilement les grands ensembles de données. L'actif comprend également de nombreuses fonctions de QC et de contrôle de processus. Il a intégré les capacités de détection des défauts, offrant aux utilisateurs la capacité de détecter et d'isoler les défauts à l'échelle nanométrique. Un modèle de contrôle d'étage intégré permet un déplacement et un positionnement précis de l'échantillon, avec des capacités à la fois manuelles et automatisées. Enfin, MATÉRIAUX APPLIQUÉS NANOSEM 3D fournit aux utilisateurs une puissante suite d'outils d'analyse des défaillances. Son logiciel automatisé permet l'analyse de l'isolement des défauts, l'analyse des points chauds, l'analyse des pannes électriques et une série d'autres tâches d'analyse des défauts. En conclusion, NANOSEM 3D wafer testing and metrology equipment est un système avancé et intégré pour caractériser, contrôler et analyser les matériaux à l'échelle nanométrique. Cette unité est très précise et contient une gamme de fonctionnalités matérielles et logicielles pour les tâches d'analyse, de métrologie et d'analyse des défaillances.