Occasion AMAT / APPLIED MATERIALS Reticle NanoSEM 3D #293643450 à vendre en France

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Test de Wafer et métrologie
Fabricant
AMAT / APPLIED MATERIALS
Modèle
Reticle NanoSEM 3D
ID: 293643450
Critical Dimension Scanning Electron Microscope (CD-SEM) Reticle SMIF, 6" Dry pump Standing operator console SECS / GEM and HSMS Mini environment Optical microscope lens: FOV 450 FOV 6000 Power supply: 400-208 V, 3 Phase, 50Hz.
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