Occasion AMAT / APPLIED MATERIALS Reticle NanoSEM 3D #293643450 à vendre en France
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ID: 293643450
Critical Dimension Scanning Electron Microscope (CD-SEM)
Reticle SMIF, 6"
Dry pump
Standing operator console
SECS / GEM and HSMS
Mini environment
Optical microscope lens:
FOV 450
FOV 6000
Power supply: 400-208 V, 3 Phase, 50Hz.
MATÉRIAUX D'AMAT/APPLIQUÉS Reticle Nérabilité SEM 3D est un équipement d'essai et de métrologie de nouvelle génération conçu pour l'analyse avancée des défaillances. Il est basé sur le système mondial de microscopie électronique à balayage par émission sur le terrain (FESEM). AMAT Reticle NintersectoriSEM 3D est une solution automatisée de test d'échantillons qui offre des performances de haute résolution et permet un contrôle rapide, précis et rentable des processus. Il dispose d'un détecteur d'imagerie basse kV qui fournit une imagerie haute résolution et un détecteur haute kV adapté à l'imagerie arrière des caractéristiques. MATÉRIAUX APPLIQUÉS Reticle NintersectoriSEM 3D dispose d'un détecteur d'imagerie arrière sensible à la plus haute résolution, qui fournit une image de la surface de l'échantillon qui peut être utilisé pour détecter les sites de défaillance. Reticle SEM 3D permet l'analyse des défaillances, la métrologie et la localisation des défauts avec une seule unité. La capacité 3D unique de la machine signifie qu'elle est capable de détecter et localiser plusieurs artefacts 3D et des défauts de fonctionnalités en même temps. MATÉRIAUX AMAT/APPLIQUÉS Reticle Nand SEM 3D peut fournir une analyse avancée des couches diélectriques et métalliques, ainsi que l'analyse des transistors, des condensateurs et plus encore. AMAT Reticle Nérabilité SEM 3D fournit une variété de fonctionnalités qui lui permettent d'effectuer une localisation complète des pannes. L'outil offre des modes d'imagerie supérieure et latérale, de spectroscopie et de mesure du signal, ainsi que la déflectométrie à balayage, la diffraction par rétrodiffusion électronique (EBSD) et la microscopie électronique à transmission (TEM). MATÉRIAUX APPLIQUÉS Reticle NAND SEM 3D dispose également d'une cartographie automatisée des échantillons, permettant des motifs multiples sur une plaquette. Reticle SEM 3D peut être configuré pour des applications spécifiques, permettant aux utilisateurs de le personnaliser en fonction de leurs besoins d'analyse particuliers. Il dispose d'une large gamme d'accessoires disponibles, y compris des conduites de gaz et des échantillons cryogéniques. MATÉRIAUX AMAT/APPLIQUÉS Reticle Nand SEM 3D est conçu pour acquérir efficacement des données d'analyse à partir d'échantillons dans un large éventail de formats, y compris contact et sans contact. AMAT Reticle NintersectoriSEM 3D est un outil révolutionnaire de test de plaquettes et de métrologie pour l'analyse avancée des défaillances. Il est conçu pour un fonctionnement facile, avec une interface graphique conviviale, et peut être rapidement configuré et configuré pour des applications spécifiques. Ses fonctionnalités polyvalentes, y compris la capacité 3D, lui permettent d'effectuer une localisation complète des pannes, ce qui est inestimable dans les environnements de production. Avec son détecteur d'imagerie bas kV et sa manipulation polyvalente des échantillons, MATÉRIAUX APPLIQUÉS Le NéSCEM Nticle 3D est un modèle idéal pour un contrôle efficace des processus.
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